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注错测试方法、装置及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411526225.0
申请日：
2024-10-30
公开(公告)号：
CN119645750A
公开(公告)日：
2025-03-18
发明(设计)人：
徐卫平
申请人：
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址：
215128 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号：
G06F11/263
IPC分类号：
G06F11/22
代理机构：
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人：
李鑫
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-18 公开 公开
2025-04-04 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/263申请日:20241030
共 50 条
[1]
基于PCIE协议分析仪的PCIERAS注错测试系统及方法 [P]. 
牟茜 .
中国专利 :CN107122277A ,2017-09-01
[2]
一种Linux系统下基于IDK内存注错的测试方法及系统 [P]. 
刘浩君 .
中国专利 :CN107273259A ,2017-10-20
[3]
测试方法、系统及装置 [P]. 
闫小明 ;
王海瑞 ;
吴跃峰 ;
李鹏飞 ;
李晨光 .
中国专利 :CN119276742A ,2025-01-07
[4]
一种BIOS注错环境搭建系统、方法及介质 [P]. 
李仕辉 .
中国专利 :CN113064815A ,2021-07-02
[5]
测试系统、测试方法及装置 [P]. 
文其林 .
中国专利 :CN108896841A ,2018-11-27
[6]
测试系统、测试方法及装置 [P]. 
文其林 .
中国专利 :CN108897647B ,2018-11-27
[7]
测试方法、装置及系统 [P]. 
姜华 ;
于淼 ;
梁博 .
中国专利 :CN105302727A ,2016-02-03
[8]
测试方法、装置及系统 [P]. 
郭涛 .
中国专利 :CN107368411A ,2017-11-21
[9]
测试方法、装置及系统 [P]. 
袁定波 ;
孙圣翔 ;
洪一帆 .
中国专利 :CN106484622B ,2017-03-08
[10]
页面测试方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
陈俊松 ;
刘恒兵 ;
梁伟盛 ;
莫卓颖 .
中国专利 :CN110716850B ,2020-01-21
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