测试装置及测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510159742.7
申请日
2025-02-13
公开(公告)号
CN119827887A
公开(公告)日
2025-04-15
发明(设计)人
刘中意 杨义
申请人
上海瞻芯电子科技股份有限公司
申请人地址
201306 上海市浦东新区海洋四路99弄11、13号8层
IPC主分类号
G01R31/00
IPC分类号
G01R31/28 G01R1/28
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
李茂家;周蕾
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
测试装置及测试系统 [P]. 
刘中意 ;
杨义 .
中国专利 :CN223742633U ,2025-12-30
[2]
测试装置及测试系统 [P]. 
楚文超 ;
孙权 ;
俞桢凯 ;
万阿平 .
中国专利 :CN212905372U ,2021-04-06
[3]
测试装置、测试系统及测试方法 [P]. 
苏晓峰 ;
陆江 .
中国专利 :CN119380798B ,2025-04-29
[4]
测试装置、测试系统及测试方法 [P]. 
苏晓峰 ;
陆江 .
中国专利 :CN119380798A ,2025-01-28
[5]
测试装置及测试系统 [P]. 
田胜金 ;
王政伟 ;
刘武 ;
刘勇 ;
黄思涔 .
中国专利 :CN114325198A ,2022-04-12
[6]
测试装置及测试系统 [P]. 
景旭 ;
张瑞艳 ;
曹景阳 ;
赵杰 ;
张敏 .
中国专利 :CN114614918A ,2022-06-10
[7]
测试装置及测试系统 [P]. 
徐军军 ;
李伟 ;
朱伟欣 ;
杨妙林 .
中国专利 :CN119010906A ,2024-11-22
[8]
测试装置及测试系统 [P]. 
王鑫 ;
周安宝 ;
刘咏辉 ;
吴亚威 ;
周龙 .
中国专利 :CN119488294A ,2025-02-21
[9]
测试装置及测试系统 [P]. 
漆一宏 .
中国专利 :CN218497040U ,2023-02-17
[10]
测试装置及测试系统 [P]. 
史燕飞 .
中国专利 :CN222395682U ,2025-01-24