测试装置、测试装置的操作方法和测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411382145.2

申请日：

2024-09-30

公开(公告)号：

CN119785864A

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

李晟求金光奎

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道水原市

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/18

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

张川绪;黄晓燕

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-08	公开	公开

共 50 条

[1]

测试装置、测试装置的操作方法以及半导体器件测试系统 [P].

朴世勋 ;

琴贤顺 ;

金东建 ;

金峻演 ;

金亨淳 .

韩国专利 :CN119964626A ,2025-05-09

[2]

测试装置、测试系统及测试系统的操作方法 [P].

张熊镇 ;

张成权 ;

金容正 ;

朴洙龙 .

中国专利 :CN114595101A ,2022-06-07

[3]

测试装置，测试系统和测试装置的控制方法 [P].

吕永培 ;

朴实 ;

裵秀奉 .

中国专利 :CN108007863A ,2018-05-08

[4]

测试装置及其操作方法 [P].

廖矩锋 ;

张硕文 ;

黄嘉纬 ;

郑弘彬 ;

朱家谊 ;

张元耀 .

中国专利 :CN120428071A ,2025-08-05

[5]

测试装置及其操作方法 [P].

黄信富 ;

陈志铭 .

中国专利 :CN120072014A ,2025-05-30

[6]

测试装置、测试系统和测试方法 [P].

黄泓仁 ;

王彦淳 ;

朱镇国 ;

刘伊浚 .

中国专利 :CN109842452A ,2019-06-04

[7]

测试装置、测试方法和测试系统 [P].

徐张坤 ;

韩统亮 .

中国专利 :CN118398067A ,2024-07-26

[8]

测试装置、测试系统及测试方法 [P].

苏晓峰 ;

陆江 .

中国专利 :CN119380798B ,2025-04-29

[9]

测试装置、测试系统及测试方法 [P].

苏晓峰 ;

陆江 .

中国专利 :CN119380798A ,2025-01-28

[10]

测试装置和测试系统 [P].

李艳坤 ;

王笃志 ;

郭立新 ;

任少滕 .

中国专利 :CN223284242U ,2025-08-29

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