一种块状样品测试架

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421132287.9

申请日：

2024-05-23

公开(公告)号：

CN222719471U

公开(公告)日：

2025-04-04

发明(设计)人：

李娜邹云玲连晓雪马跃

申请人：

中国民航大学

申请人地址：

300300 天津市东丽区津北公路2898号

IPC主分类号：

G01N23/20025

IPC分类号：

代理机构：

西安方诺专利代理事务所(普通合伙) 61285

代理人：

李思琼

法律状态：

授权

国省代码：

天津市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-04	授权	授权

共 50 条

[1]

一种XRD块状样品测试架 [P].

夏晓帆 ;

范广新 ;

王洋 ;

刘孟杰 .

中国专利 :CN216247743U ,2022-04-08

[2]

测试块状样品微结构的方法和测试块状样品微结构的装置 [P].

章银祥 ;

陈旭辉 ;

高志杰 ;

张鑫哲 .

中国专利 :CN121231534A ,2025-12-30

[3]

一种X射线衍射仪样品测试架 [P].

卞欣 ;

范益 .

中国专利 :CN202854068U ,2013-04-03

[4]

X射线衍射仪测定固体块状样品用样品架 [P].

储刚 .

中国专利 :CN2746387Y ,2005-12-14

[5]

一种XRD简易块状样品台 [P].

张华勇 .

中国专利 :CN203053896U ,2013-07-10

[6]

块状样品夹持机构 [P].

赵亮 ;

余将 .

中国专利 :CN212763052U ,2021-03-23

[7]

一种固体粉末荧光样品测试架 [P].

高广刚 ;

鲍文波 ;

刘岩 ;

马宝红 ;

高苏亮 ;

刘建勋 .

中国专利 :CN204330598U ,2015-05-13

[8]

一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台 [P].

杨波 ;

韩丽 .

中国专利 :CN103901062A ,2014-07-02

[9]

γ谱仪样品测试架 [P].

田自宁 ;

成智威 ;

贾明雁 .

中国专利 :CN201732168U ,2011-02-02

[10]

X射线衍射仪块状样品架 [P].

汤云晖 .

中国专利 :CN210775286U ,2020-06-16

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