缺陷检测模型训练方法和缺陷检测方法及装置和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011534533.X

申请日：

2020-12-22

公开(公告)号：

CN114723651B

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

韩春营黄守艳俞宗强蒋俊海马卫民曲诚李强

申请人：

东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

代理机构：

北京汇知杰知识产权代理有限公司 11587

代理人：

杨彦鸿

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测模型训练方法和缺陷检测方法及装置和设备 [P].

韩春营 ;

黄守艳 ;

俞宗强 ;

蒋俊海 ;

马卫民 ;

曲诚 ;

李强 .

中国专利 :CN114723651A ,2022-07-08

[2]

缺陷检测模型训练方法、装置和缺陷检测方法、装置 [P].

张文超 ;

张一凡 ;

冯扬扬 ;

刘杰 .

中国专利 :CN113674203A ,2021-11-19

[3]

缺陷检测模型训练方法、装置和缺陷检测方法、装置 [P].

张文超 ;

张一凡 ;

冯扬扬 ;

刘杰 .

中国专利 :CN113674203B ,2025-01-24

[4]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法和装置 [P].

张黎 .

中国专利 :CN119919754A ,2025-05-02

[5]

缺陷检测模型训练方法及装置、缺陷检测方法和电子设备 [P].

洪恺临 ;

丁有爽 ;

邵天兰 .

中国专利 :CN116883790B ,2025-12-26

[6]

缺陷检测模型训练方法及装置、缺陷检测方法和电子设备 [P].

洪恺临 ;

丁有爽 ;

邵天兰 .

中国专利 :CN116862903B ,2024-06-25

[7]

缺陷检测模型的训练方法及缺陷检测方法 [P].

刘梦舒 ;

唐永亮 .

中国专利 :CN117809110A ,2024-04-02

[8]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法、系统和设备 [P].

程琪 ;

张钰 ;

张晋晶 ;

张喜会 ;

欧阳超 .

中国专利 :CN120339225A ,2025-07-18

[9]

缺陷检测模型训练和缺陷检测方法及相关设备 [P].

谢萱花 ;

高红超 ;

卢盛林 .

中国专利 :CN118608895A ,2024-09-06

[10]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法、装置及设备 [P].

李藕 ;

张家驹 ;

刘思思 .

中国专利 :CN120510154A ,2025-08-19

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