一种老化测试夹具温度校准装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421419474.5
申请日
2024-06-20
公开(公告)号
CN222774145U
公开(公告)日
2025-04-18
发明(设计)人
丁荣伟 王延政 王裕昌 佘海霞
申请人
上海华岭申瓷集成电路有限责任公司
申请人地址
201306 上海市浦东新区沧海路和云水路的纳米园558号1号楼
IPC主分类号
G01K15/00
IPC分类号
G01R31/26 G01R1/04 G01R1/02
代理机构
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人
黄一磊
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
老化测试夹具温度校准方法、系统、电子设备、存储介质 [P]. 
周军 ;
王延政 ;
王裕昌 ;
丁荣伟 .
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[2]
一种硅片温度校准装置 [P]. 
王文寿 .
中国专利 :CN221376873U ,2024-07-19
[3]
温度校准装置 [P]. 
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刘新 ;
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[4]
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[5]
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[6]
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李函轩 ;
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
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