前端压力测试方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411855546.5
申请日
2024-12-16
公开(公告)号
CN119862097A
公开(公告)日
2025-04-22
发明(设计)人
李国靖
申请人
北京世纪好未来教育科技有限公司
申请人地址
100085 北京市海淀区小营西路10号院1号楼B座7层701室1号
IPC主分类号
G06F11/34
IPC分类号
代理机构
北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448
代理人
贾依娇
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
乔明鹤 ;
姬超平 .
中国专利 :CN114116487B ,2024-03-15
[2]
压力测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘文龙 .
中国专利 :CN114265729A ,2022-04-01
[3]
压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
乔明鹤 ;
姬超平 .
中国专利 :CN114116487A ,2022-03-01
[4]
偿付能力的压力测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
马耿彬 ;
郑椿 .
中国专利 :CN110458712A ,2019-11-15
[5]
偿付能力的压力测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
马耿彬 ;
郑椿 .
中国专利 :CN110458712B ,2024-09-13
[6]
数据库压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈胜 .
中国专利 :CN120448233A ,2025-08-08
[7]
一种压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴薇 ;
秦晓宁 ;
许飞 .
中国专利 :CN113468009A ,2021-10-01
[8]
一种压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴薇 ;
秦晓宁 ;
许飞 .
中国专利 :CN113468009B ,2024-05-24
[9]
数据库压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨帆 .
中国专利 :CN120492300A ,2025-08-15
[10]
前端资源加载方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
詹泽娟 .
中国专利 :CN120974024A ,2025-11-18