基于混合专家模型的缺陷检测方法、系统及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510272595.4

申请日：

2025-03-10

公开(公告)号：

CN119785054A

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

邹宁睦雷天悟陈思霖王柏涵

申请人：

南京大学

申请人地址：

210023 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号

IPC主分类号：

G06V10/70

IPC分类号：

G06V10/776 G06V10/774 G06T7/00

代理机构：

北京乾成律信知识产权代理有限公司 11927

代理人：

王月春;姚志远

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省南京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/70申请日:20250310
2025-04-08	公开	公开
2025-08-22	授权	授权

共 50 条

[1]

基于混合专家模型的缺陷检测方法、系统及存储介质 [P].

邹宁睦 ;

雷天悟 ;

陈思霖 ;

王柏涵 .

中国专利 :CN119785054B ,2025-08-22

[2]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

李明洋 .

中国专利 :CN111583258A ,2020-08-25

[3]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

张元 ;

柴正约 ;

陈斌 ;

刘永江 ;

李波 .

中国专利 :CN116500042B ,2024-01-26

[4]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

李明洋 .

中国专利 :CN111583258B ,2024-03-15

[5]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质 [P].

朱合军 ;

钟建平 ;

林淼 ;

张恒瑞 ;

马先明 ;

陈其涛 ;

康映华 .

中国专利 :CN117726610A ,2024-03-19

[6]

基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

李程文 ;

丁犇 ;

钟宏扬 ;

邓家亮 ;

祝家东 .

中国专利 :CN118115460A ,2024-05-31

[7]

产品缺陷检测方法、系统、装置及存储介质 [P].

彭广德 ;

王睿 ;

李卫燊 ;

李卫铳 .

中国专利 :CN116539619B ,2024-05-10

[8]

模型训练方法、系统、设备、存储介质及缺陷检测方法 [P].

张潮 .

中国专利 :CN115564702A ,2023-01-03

[9]

基于全尺度的漏磁缺陷检测方法及系统、存储介质、终端 [P].

杨泽远 ;

杨刚 ;

汪洋 ;

熊心和 ;

匡海军 ;

郎宪明 ;

汪宙峰 ;

宋兵 ;

杨一博 ;

赵芳苏 .

中国专利 :CN119006441A ,2024-11-22

[10]

基于多专家模型的目标检测方法、装置、存储介质及设备 [P].

王堃 .

中国专利 :CN112949731A ,2021-06-11

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