芯片模糊缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411715050.8

申请日：

2024-11-27

公开(公告)号：

CN119722589A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

宇晓彤孙海晶傅成城张祎

申请人：

航天科工防御技术研究试验中心

申请人地址：

100085 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/82 G06N3/0895

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

王聪聪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241127
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测模型的训练方法及缺陷检测方法 [P].

刘梦舒 ;

唐永亮 .

中国专利 :CN117809110A ,2024-04-02

[2]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法、装置及设备 [P].

李藕 ;

张家驹 ;

刘思思 .

中国专利 :CN120510154A ,2025-08-19

[3]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法、装置及设备 [P].

李藕 ;

张家驹 ;

刘思思 .

中国专利 :CN120510154B ,2025-10-10

[4]

显示面板缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法及设备 [P].

吴剑 ;

谢梦瑶 ;

冯志群 ;

姚猛 ;

魏晨曦 ;

刘子琪 ;

杜丽凯 ;

刘昊 ;

魏志强 .

中国专利 :CN118609127B ,2024-11-12

[5]

无监督的缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法 [P].

曾利宏 ;

杨洋 ;

李杰明 ;

黄淦 ;

林泽伟 .

中国专利 :CN114693685B ,2022-07-01

[6]

显示面板缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法及设备 [P].

吴剑 ;

谢梦瑶 ;

冯志群 ;

姚猛 ;

魏晨曦 ;

刘子琪 ;

杜丽凯 ;

刘昊 ;

魏志强 .

中国专利 :CN118609127A ,2024-09-06

[7]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法、系统和设备 [P].

程琪 ;

张钰 ;

张晋晶 ;

张喜会 ;

欧阳超 .

中国专利 :CN120339225A ,2025-07-18

[8]

缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法及相关装置 [P].

崔婵婕 ;

任宇鹏 ;

卢维 .

中国专利 :CN111814850B ,2024-10-18

[9]

缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法及相关装置 [P].

崔婵婕 ;

任宇鹏 ;

卢维 .

中国专利 :CN111814850A ,2020-10-23

[10]

缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法及相关装置 [P].

黄积晟 ;

任宇鹏 ;

卢维 .

中国专利 :CN111814867A ,2020-10-23

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