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一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411951738.6
申请日
:
2024-12-27
公开(公告)号
:
CN119738470A
公开(公告)日
:
2025-04-01
发明(设计)人
:
黄松岭
黄璞
于歆杰
彭丽莎
李世松
申请人
:
清华大学
申请人地址
:
100084 北京市海淀区清华园
IPC主分类号
:
G01N27/904
IPC分类号
:
G01N27/90
G06F30/23
G06T17/00
G06F17/16
G06T11/00
代理机构
:
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
:
白雪静
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-18
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/904申请日:20241227
2025-04-01
公开
公开
2025-12-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统
[P].
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引用数:
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机构:
黄松岭
;
黄璞
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机构:
清华大学
清华大学
黄璞
;
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机构:
于歆杰
;
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机构:
彭丽莎
;
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机构:
李世松
.
中国专利
:CN119738470B
,2025-12-02
[2]
基于紧支径向基函数稀疏表征的电磁涡流缺陷成像方法
[P].
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机构:
黄松岭
;
黄璞
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机构:
清华大学
清华大学
黄璞
;
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机构:
彭丽莎
;
黄紫靖
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机构:
清华大学
清华大学
黄紫靖
;
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机构:
张振宇
;
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机构:
李世松
;
韩正
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机构:
清华大学
清华大学
韩正
;
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机构:
温舒智
;
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机构:
桂林
;
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机构:
蒋超凡
.
中国专利
:CN120427733A
,2025-08-05
[3]
一种基于闭环分数阶PID控制的L1正则化涡流缺陷成像方法
[P].
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机构:
黄松岭
;
黄璞
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机构:
清华大学
清华大学
黄璞
;
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机构:
彭丽莎
;
韩正
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机构:
清华大学
清华大学
韩正
;
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机构:
李世松
;
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机构:
桂林
;
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机构:
温舒智
.
中国专利
:CN120801494A
,2025-10-17
[4]
一种涡流雷达缺陷检测、定量和成像方法及系统
[P].
何赟泽
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何赟泽
;
杨瑞珍
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杨瑞珍
.
中国专利
:CN104677987B
,2015-06-03
[5]
一种基于电磁涡流的金属板材厚度测量方法及系统
[P].
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机构:
黄松岭
;
黄璞
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机构:
清华大学
清华大学
黄璞
;
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机构:
于歆杰
;
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机构:
彭丽莎
;
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机构:
李世松
.
中国专利
:CN119714036A
,2025-03-28
[6]
一种基于电磁涡流检测管道内外壁缺陷位置的装置
[P].
张伟
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张伟
;
师奕兵
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师奕兵
;
王志刚
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王志刚
;
李焱骏
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李焱骏
;
孙虎
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孙虎
;
高旭阳
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高旭阳
;
李志鹏
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李志鹏
.
中国专利
:CN108872374B
,2018-11-23
[7]
基于非结构化网格的参数化水平集拓扑优化方法及系统
[P].
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机构:
李好
;
汤智凯
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
汤智凯
;
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机构:
高亮
.
中国专利
:CN117744291B
,2025-02-11
[8]
基于非结构化网格的参数化水平集拓扑优化方法及系统
[P].
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机构:
李好
;
汤智凯
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0
机构:
华中科技大学
华中科技大学
汤智凯
;
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机构:
高亮
.
中国专利
:CN117744291A
,2024-03-22
[9]
基于圆角矩形阵列探头的脉冲涡流缺陷检测成像系统
[P].
南玉龙
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南玉龙
;
杨龙兴
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杨龙兴
;
阚仁峰
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阚仁峰
.
中国专利
:CN105548350B
,2016-05-04
[10]
一种基于脉冲涡流的导电材料缺陷高精度成像检测方法
[P].
银鸿
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银鸿
;
文轩
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文轩
;
杨生胜
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杨生胜
;
王鹢
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王鹢
;
李存惠
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李存惠
;
王俊
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王俊
;
庄建宏
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庄建宏
.
中国专利
:CN111122697A
,2020-05-08
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