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检测装置和检测装置的检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411148570.5
申请日
:
2024-08-20
公开(公告)号
:
CN119757349A
公开(公告)日
:
2025-04-04
发明(设计)人
:
董华章
杨泽国
孙亚轩
李龙
杨喜峰
申请人
:
比亚迪股份有限公司
申请人地址
:
518118 广东省深圳市坪山区比亚迪路3009号
IPC主分类号
:
G01N21/88
IPC分类号
:
代理机构
:
北京景闻知识产权代理有限公司 11742
代理人
:
贾玉姣
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-04
公开
公开
共 50 条
[1]
检测装置和检测方法
[P].
董文储
论文数:
0
引用数:
0
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0
董文储
.
中国专利
:CN107015660A
,2017-08-04
[2]
表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置
[P].
雷富强
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
雷富强
;
马刘文
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
马刘文
;
关鹏
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
关鹏
;
张巍
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
张巍
;
任海英
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
任海英
;
李燃
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
李燃
;
杨朝晖
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
杨朝晖
;
张富超
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
张富超
.
中国专利
:CN120655644A
,2025-09-16
[3]
检测装置、状态检测装置和检测方法
[P].
小杉正则
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0
机构:
株式会社东海理化电机制作所
株式会社东海理化电机制作所
小杉正则
.
日本专利
:CN119546936A
,2025-02-28
[4]
检测装置和使用该检测装置的检测方法
[P].
王传邦
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王传邦
;
吴育平
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吴育平
;
张雁凯
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张雁凯
;
余军
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余军
.
中国专利
:CN1880964A
,2006-12-20
[5]
检测装置和检测方法
[P].
佐野佑子
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机构:
麦克赛尔株式会社
麦克赛尔株式会社
佐野佑子
;
神鸟明彦
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机构:
麦克赛尔株式会社
麦克赛尔株式会社
神鸟明彦
.
日本专利
:CN114126498B
,2024-05-17
[6]
检测装置和检测方法
[P].
理查德·聪克
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理查德·聪克
;
A·多姆克
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A·多姆克
;
K·沃斯
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K·沃斯
;
T·劳
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T·劳
;
J·施托克施莱德
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J·施托克施莱德
.
中国专利
:CN105705305B
,2016-06-22
[7]
检测装置和检测方法
[P].
笠井英治
论文数:
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笠井英治
;
加藤晓纪
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加藤晓纪
;
稻上三佐子
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稻上三佐子
.
中国专利
:CN1103442C
,1997-01-01
[8]
检测装置和检测方法
[P].
李先
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0
李先
.
中国专利
:CN106705788A
,2017-05-24
[9]
检测方法和检测装置
[P].
渡边淳
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渡边淳
;
高桥祐辉
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高桥祐辉
.
中国专利
:CN107886494A
,2018-04-06
[10]
检测方法和检测装置
[P].
张晓明
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机构:
中钞印制技术研究院有限公司
中钞印制技术研究院有限公司
张晓明
;
田翀
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机构:
中钞印制技术研究院有限公司
中钞印制技术研究院有限公司
田翀
;
魏先印
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机构:
中钞印制技术研究院有限公司
中钞印制技术研究院有限公司
魏先印
;
纪磊
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机构:
中钞印制技术研究院有限公司
中钞印制技术研究院有限公司
纪磊
;
朱强
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机构:
中钞印制技术研究院有限公司
中钞印制技术研究院有限公司
朱强
;
赵静
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机构:
中钞印制技术研究院有限公司
中钞印制技术研究院有限公司
赵静
.
中国专利
:CN114414535B
,2024-05-07
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