晶圆的翘曲度和弯曲度检测系统及其检测方法

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专利类型
发明
申请号
CN202510317282.6
申请日
2025-03-18
公开(公告)号
CN119845177A
公开(公告)日
2025-04-18
发明(设计)人
黄一凡 李梁玮 罗粤浩 余鑫巍
申请人
恒迈光学精密机械(杭州)有限公司
申请人地址
310000 浙江省杭州市富阳区春江街道江南路68号第23幢201室
IPC主分类号
G01B11/16
IPC分类号
G01B11/24 G01B9/02015 H01L21/66 H01L21/67
代理机构
杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260
代理人
徐晶晶
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
晶圆翘曲度检测装置及方法 [P]. 
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[2]
一种密封圈弯曲度和翘曲度的检测装置和检测方法 [P]. 
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[3]
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[7]
隔膜弯曲度检测装置及检测隔膜弯曲度的方法 [P]. 
庄志 ;
鲁群 ;
赵远 ;
刘万锋 ;
廖培龙 ;
胡大山 ;
周鸿雁 ;
陈彦丞 ;
陈旭建 ;
刘倩倩 .
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[8]
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[9]
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[10]
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