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三维测量装置、三维测量装置驱动方法以及三维测量装置驱动程序

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202380065369.8
申请日：
2023-09-11
公开(公告)号：
CN119856036A
公开(公告)日：
2025-04-18
发明(设计)人：
松本昌绘 阿部淳 东海林直树
申请人：
株式会社拓普康
申请人地址：
日本东京
IPC主分类号：
G01C15/00
IPC分类号：
G01B7/30 G01D5/12
代理机构：
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人：
田喜庆
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01C 15/00申请日:20230911
2025-04-18 公开 公开
共 50 条
[1]
三维测量装置、三维测量方法以及三维测量程序 [P]. 
卢存伟 .
中国专利 :CN101061367A ,2007-10-24
[2]
三维测量装置、三维测量方法及三维测量用程序 [P]. 
林笃司 ;
高地伸夫 ;
七夕高也 ;
矶部祥子 .
中国专利 :CN113874677A ,2021-12-31
[3]
三维测量装置、三维测量方法 [P]. 
田端伸章 .
中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26
[4]
三维测量装置以及三维测量方法 [P]. 
新山孝幸 ;
大山刚 ;
坂井田宪彦 .
中国专利 :CN113767263A ,2021-12-07
[5]
三维测量装置以及三维测量方法 [P]. 
新山孝幸 ;
大山刚 ;
坂井田宪彦 .
日本专利 :CN113767263B ,2024-05-07
[6]
三维测量装置以及三维测量方法 [P]. 
大山刚 ;
坂井田宪彦 ;
二村伊久雄 .
中国专利 :CN107429992B ,2017-12-01
[7]
三维测量装置以及三维测量方法 [P]. 
大桥隆弘 .
日本专利 :CN119665862A ,2025-03-21
[8]
三维测量装置、三维测量方法 [P]. 
木村匠 .
中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08
[9]
三维测量装置 [P]. 
三谷勇介 .
日本专利 :CN114424020B ,2024-11-01
[10]
三维测量装置 [P]. 
三谷勇介 .
中国专利 :CN114424020A ,2022-04-29
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