缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411781279.1

申请日：

2024-12-05

公开(公告)号：

CN119810024A

公开(公告)日：

2025-04-11

发明(设计)人：

王彬王玉栋黄益民

申请人：

华兴源创（深圳）科技有限公司

申请人地址：

518110 广东省深圳市龙华区福城街道茜坑社区鸿创科技中心2栋一单元6楼

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/28 G06V10/75

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

左帮胜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-11	公开	公开
2025-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241205

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06

[2]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

王楠 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661140A ,2023-01-31

[3]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

蒋焘 .

中国专利 :CN111583223A ,2020-08-25

[4]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

冯嘉佩 ;

陈鹏光 ;

徐开元 ;

刘枢 .

中国专利 :CN120931612A ,2025-11-11

[5]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118071719A ,2024-05-24

[6]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张松 ;

刘枢 .

中国专利 :CN120912590A ,2025-11-07

[7]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

周震东 ;

金韵 ;

袁磊 ;

莫宇 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118799248A ,2024-10-18

[8]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

莫宇 ;

金韵 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119515761A ,2025-02-25

[9]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张建书 ;

何水源 ;

贺继石 ;

刘枢 ;

沈小勇 ;

吕江波 .

中国专利 :CN117726579A ,2024-03-19

[10]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

柳锐 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 ;

易振彧 ;

莫宇 .

中国专利 :CN117011304B ,2024-03-26

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