仿真测试方法及存储介质、仿真测试设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411924774.3
申请日
2024-12-25
公开(公告)号
CN119861275A
公开(公告)日
2025-04-22
发明(设计)人
孙洁 刘孝壮 何召锋
申请人
上海概伦电子股份有限公司
申请人地址
201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/28
代理机构
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651
代理人
王琪
法律状态
公开
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
仿真信号测试电路、测试方法、测试设备及存储介质 [P]. 
蔡天昊 ;
卢战勇 ;
陈京好 ;
张楠赓 .
中国专利 :CN115684878A ,2023-02-03
[2]
仿真测试装置、仿真测试方法、仿真测试系统及存储介质 [P]. 
宋亚伟 ;
林智桂 ;
付广 ;
邓伟明 ;
张家洛 .
中国专利 :CN113805496A ,2021-12-17
[3]
BMS测试方法、装置、系统、仿真测试设备及存储介质 [P]. 
刘振锐 .
中国专利 :CN112285586A ,2021-01-29
[4]
BMS测试方法、装置、系统、仿真测试设备及存储介质 [P]. 
刘振锐 .
中国专利 :CN112285586B ,2024-06-07
[5]
仿真测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张雨 .
中国专利 :CN119322738A ,2025-01-17
[6]
仿真测试方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
刘禹 .
中国专利 :CN115598998A ,2023-01-13
[7]
仿真测试方法、仿真测试装置,设备以及计算机存储介质 [P]. 
赵世杰 ;
马仁智 .
中国专利 :CN120086129A ,2025-06-03
[8]
仿真测试系统及仿真测试设备 [P]. 
马军 ;
于飞 ;
韩敏华 ;
王旭 .
中国专利 :CN106847016B ,2017-06-13
[9]
信号优先算法仿真测试方法及系统、测试设备、存储介质 [P]. 
田锋 ;
周勇 ;
王晋云 ;
罗佳晨 ;
张阳刚 ;
周子益 ;
刘星 ;
阚倩 .
中国专利 :CN113377092A ,2021-09-10
[10]
仿真测试建模方法、系统、测试方法、设备及存储介质 [P]. 
刘雨霞 ;
谷文博 ;
刘轶鑫 ;
荣常如 ;
王永超 ;
汪帆 .
中国专利 :CN113378403A ,2021-09-10