位移测试系统及位移测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911076334.6
申请日
2019-11-06
公开(公告)号
CN110686602B
公开(公告)日
2025-03-28
发明(设计)人
范庆辉 文勇 黄海莹 张荣 凌明祥 周东 代明香 刘丹峰
申请人
中国工程物理研究院总体工程研究所
申请人地址
621908 四川省绵阳市绵山路64号
IPC主分类号
G01B11/02
IPC分类号
代理机构
北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340
代理人
叶明博
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
位移测试系统及位移测试方法 [P]. 
范庆辉 ;
文勇 ;
黄海莹 ;
张荣 ;
凌明祥 ;
周东 ;
代明香 ;
刘丹峰 .
中国专利 :CN110686602A ,2020-01-14
[2]
位移测试系统 [P]. 
范庆辉 ;
文勇 ;
黄海莹 ;
张荣 ;
凌明祥 ;
周东 ;
代明香 ;
刘丹峰 .
中国专利 :CN210719032U ,2020-06-09
[3]
微位移测试系统 [P]. 
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余跃庆 .
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[4]
位移测试装置及位移测试方法 [P]. 
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[5]
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唐云洋 ;
杨禾原 ;
庄桂增 ;
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[6]
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[7]
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[9]
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[10]
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