一种晶圆级老化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410179074.X

申请日：

2024-02-08

公开(公告)号：

CN118050619B

公开(公告)日：

2025-04-18

发明(设计)人：

唐仁伟廉哲黄建军胡海洋

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391

代理人：

赵云秀

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-17	公开	公开
2025-04-18	授权	授权
2024-06-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240208

共 50 条

[1]

一种晶圆级老化测试装置 [P].

唐仁伟 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN118050619A ,2024-05-17

[2]

一种晶圆级老化测试夹具及晶圆级老化测试装置 [P].

唐仁伟 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN118033186A ,2024-05-14

[3]

一种晶圆级老化测试夹具及晶圆级老化测试装置 [P].

周斌 ;

郭孝明 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN118033189B ,2024-08-23

[4]

一种晶圆级老化测试夹具及晶圆级老化测试装置 [P].

周斌 ;

郭孝明 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN118033189A ,2024-05-14

[5]

一种晶圆级老化测试夹具及晶圆级老化测试装置 [P].

唐仁伟 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN222050269U ,2024-11-22

[6]

一种晶圆级老化测试装置及测试系统 [P].

唐仁伟 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN221883826U ,2024-10-22

[7]

一种晶圆级老化测试装置、测试系统及测试方法 [P].

唐仁伟 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN117872096A ,2024-04-12

[8]

一种晶圆级老化测试夹具 [P].

周斌 ;

郭孝明 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN221883712U ,2024-10-22

[9]

一种晶圆级老化测试装置 [P].

马成功 .

中国专利 :CN119087185A ,2024-12-06

[10]

晶圆夹具、晶圆老化测试装置以及晶圆老化测试方法 [P].

唐平 ;

王国庆 ;

吴喆 .

中国专利 :CN119619812A ,2025-03-14

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