混沌测试方法、装置、设备及存储介质

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专利类型
发明
申请号
CN202411872829.0
申请日
2024-12-18
公开(公告)号
CN119807055A
公开(公告)日
2025-04-11
发明(设计)人
郑阔涛 李桦
申请人
金篆信科有限责任公司
申请人地址
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷一街10号院8号楼18层(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)
IPC主分类号
G06F11/3668
IPC分类号
G06F16/242 G06F16/2455 G06F16/22
代理机构
北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662
代理人
卢万腾
法律状态
公开
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
混沌测试方法、装置、混沌测试平台及存储介质 [P]. 
任翔 .
中国专利 :CN113973068A ,2022-01-25
[2]
混沌测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙鑫鑫 .
中国专利 :CN115374011A ,2022-11-22
[3]
混沌测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
徐征磊 .
中国专利 :CN117692355A ,2024-03-12
[4]
混沌测试方法、系统、通信设备及存储介质 [P]. 
黄建文 .
中国专利 :CN117667661A ,2024-03-08
[5]
测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
廖泽宇 .
中国专利 :CN110010157A ,2019-07-12
[6]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邓鹏 ;
廖刚 .
中国专利 :CN119445431A ,2025-02-14
[7]
软件测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
郭景丽 ;
蔡静庭 .
中国专利 :CN114996142A ,2022-09-02
[8]
脚本测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
杨洁 ;
胡大奎 ;
杨理国 .
中国专利 :CN116149983B ,2024-11-19
[9]
渗透测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
朱利军 ;
黄元飞 ;
王博 ;
林星辰 ;
夏剑锋 ;
马坤 ;
赵培源 ;
李鹏轩 ;
刘浩杰 ;
童小敏 ;
彭丽 .
中国专利 :CN111783105A ,2020-10-16
[10]
Mock测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张超群 .
中国专利 :CN115129586A ,2022-09-30