屏幕缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411882957.3

申请日：

2024-12-19

公开(公告)号：

CN119810060A

公开(公告)日：

2025-04-11

发明(设计)人：

何润杰刘恩锋胡钢

申请人：

研祥智慧物联科技有限公司

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦1701

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G01N21/88 G06V10/82 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/0495 G06N3/096

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

黄申粤

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241219
2025-04-11	公开	公开

共 50 条

[1]

异形屏幕缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

王佳 ;

郑楚雄 ;

刘锂灿 .

中国专利 :CN119477864A ,2025-02-18

[2]

屏幕缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郑国荣 ;

胡斌 ;

谢松乐 .

中国专利 :CN113781393A ,2021-12-10

[3]

屏幕缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

郑国荣 ;

胡斌 ;

谢松乐 ;

彭涛 .

中国专利 :CN113781396A ,2021-12-10

[4]

屏幕缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郑国荣 .

中国专利 :CN113838053A ,2021-12-24

[5]

屏幕缺陷检测方法、检测设备、系统及存储介质 [P].

叶飞 ;

何帆 .

中国专利 :CN109119009A ,2019-01-01

[6]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN114529511A ,2022-05-24

[7]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN114529511B ,2025-03-14

[8]

缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

郑国荣 ;

董鹏 ;

钟汉龙 ;

曾勇威 ;

谢佳衔 .

中国专利 :CN120823218A ,2025-10-21

[9]

缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

郑国荣 ;

董鹏 ;

钟汉龙 ;

曾勇威 ;

谢佳衔 .

中国专利 :CN120823218B ,2025-11-21

[10]

缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

韦敏 ;

杨嘉成 .

中国专利 :CN119477927A ,2025-02-18

← 1 2 3 4 5 →