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基于继电器通道切换的测试系统及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411991466.2
申请日
:
2024-12-31
公开(公告)号
:
CN119738694A
公开(公告)日
:
2025-04-01
发明(设计)人
:
朱晓东
蒋鑫
冯锐荣
何超
刘鹏程
申请人
:
东莞市诺丽半导体技术有限公司
申请人地址
:
523000 广东省东莞市万江街道万盛路10号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R31/327
G01R1/04
代理机构
:
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
:
刘光明
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-01
公开
公开
2025-04-18
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241231
共 50 条
[1]
基于固态继电器的多通道导通绝缘测试系统及测试方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
沈海阔
;
魏凤智
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机构:
北京交通大学
北京交通大学
魏凤智
;
论文数:
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机构:
智少丹
;
论文数:
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机构:
蒲茜
;
王焕清
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机构:
北京交通大学
北京交通大学
王焕清
;
论文数:
引用数:
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机构:
肖燕彩
;
论文数:
引用数:
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机构:
刘文韬
.
中国专利
:CN116754908B
,2024-03-19
[2]
铁路系统用继电器的测试系统及测试方法
[P].
卢宏康
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
卢宏康
;
夏好广
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
夏好广
;
杨先超
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
杨先超
;
密启欣
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
密启欣
;
秦飞龙
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
秦飞龙
;
王刚
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
王刚
;
余健
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
余健
;
杨毅
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
杨毅
;
张明
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
张明
;
谷学冕
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
谷学冕
;
张旭
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
张旭
;
王海琦
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
王海琦
;
高枫
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
高枫
;
张顺广
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
张顺广
;
张波
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
张波
;
曹宏发
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中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
曹宏发
;
康晶辉
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
康晶辉
;
杨伟君
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
杨伟君
;
赵红卫
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机构:
中国铁道科学研究院集团有限公司
中国铁道科学研究院集团有限公司
赵红卫
.
中国专利
:CN118150995A
,2024-06-07
[3]
一种机上继电器测试系统及机上继电器测试方法
[P].
高学敏
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高学敏
;
陈峰
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陈峰
;
黄利宾
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黄利宾
;
蔡云芳
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蔡云芳
;
韩建宾
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韩建宾
;
翁远卓
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翁远卓
;
范玲
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范玲
;
陶利军
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陶利军
;
陈大鹏
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陈大鹏
;
介战奎
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介战奎
;
崔世赟
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崔世赟
;
何乐
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何乐
;
陆智豪
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陆智豪
.
中国专利
:CN113125945A
,2021-07-16
[4]
航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法
[P].
翟国富
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翟国富
;
王召斌
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王召斌
;
黄晓毅
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黄晓毅
;
叶雪荣
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叶雪荣
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马跃
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马跃
;
杨文英
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杨文英
;
任万滨
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任万滨
;
郑艳明
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郑艳明
.
中国专利
:CN102621488B
,2012-08-01
[5]
基于HIL台架的高压继电器诊断测试系统及方法
[P].
周军
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周军
;
刘振
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刘振
.
中国专利
:CN110456268A
,2019-11-15
[6]
基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法
[P].
张金凤
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张金凤
;
孟庆伟
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
孟庆伟
;
唐金慧
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
唐金慧
;
马成英
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
马成英
;
杨超
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杨超
;
刘玏
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
刘玏
.
中国专利
:CN112241388B
,2024-11-12
[7]
基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法
[P].
张金凤
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张金凤
;
孟庆伟
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孟庆伟
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唐金慧
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唐金慧
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马成英
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马成英
;
杨超
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杨超
;
刘玏
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刘玏
.
中国专利
:CN112241388A
,2021-01-19
[8]
一种继电器电气寿命测试系统及方法
[P].
王刚
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机构:
惠州市乐亿通科技股份有限公司
惠州市乐亿通科技股份有限公司
王刚
;
邹权福
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机构:
惠州市乐亿通科技股份有限公司
惠州市乐亿通科技股份有限公司
邹权福
;
秦志敏
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机构:
惠州市乐亿通科技股份有限公司
惠州市乐亿通科技股份有限公司
秦志敏
.
中国专利
:CN118362877B
,2024-09-06
[9]
一种继电器电气寿命测试系统及方法
[P].
王刚
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机构:
惠州市乐亿通科技股份有限公司
惠州市乐亿通科技股份有限公司
王刚
;
邹权福
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机构:
惠州市乐亿通科技股份有限公司
惠州市乐亿通科技股份有限公司
邹权福
;
秦志敏
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机构:
惠州市乐亿通科技股份有限公司
惠州市乐亿通科技股份有限公司
秦志敏
.
中国专利
:CN118362877A
,2024-07-19
[10]
继电器负载测试系统
[P].
张志军
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张志军
;
祝胜华
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祝胜华
;
方华军
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方华军
;
蒋明
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蒋明
.
中国专利
:CN217954658U
,2022-12-02
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