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用于识别电子系统的测量装置被流体和/或颗粒污染的方法以及电子系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411399198.5
申请日：
2024-10-09
公开(公告)号：
CN119803772A
公开(公告)日：
2025-04-11
发明(设计)人：
P·费林 A·舍恩哈尔斯 S·J·乌梅施
申请人：
罗伯特·博世有限公司
申请人地址：
德国斯图加特
IPC主分类号：
G01L27/00
IPC分类号：
代理机构：
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人：
胡泽周
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-11 公开 公开
共 50 条
[1]
电子系统和用于制造电子系统的方法 [P]. 
T.措勒 ;
T.皮尔克 ;
J.肯特纳 ;
R.埃伦普福特 ;
F.安特 .
中国专利 :CN105940513A ,2016-09-14
[2]
电子系统以及用于电子系统的设定方法 [P]. 
谭仲平 .
中国专利 :CN118151569A ,2024-06-07
[3]
电子系统以及操作电子系统的方法 [P]. 
彼德·斯里克尔维尔 ;
苏珊·波尔夫伊德 .
中国专利 :CN101918952B ,2010-12-15
[4]
电子系统以及电子系统的控制方法 [P]. 
津久井志信 ;
吉田胜一 .
中国专利 :CN105376439A ,2016-03-02
[5]
电子系统 [P]. 
S·达亚尔 ;
M·乔达里 ;
M·简恩 .
中国专利 :CN208367638U ,2019-01-11
[6]
电子系统和操作电子系统的方法 [P]. 
洪晸旭 .
韩国专利 :CN110825516B ,2024-12-31
[7]
电子系统和操作电子系统的方法 [P]. 
洪晸旭 .
中国专利 :CN110825516A ,2020-02-21
[8]
电子系统以及用于电子系统的操作方法 [P]. 
魏琮峰 ;
陈韦铭 ;
叶育书 .
中国专利 :CN120429249A ,2025-08-05
[9]
电子系统以及电子系统的跌落测试方法 [P]. 
廖则玮 ;
施心智 .
中国专利 :CN114531772A ,2022-05-24
[10]
电子系统以及电子系统的跌落测试方法 [P]. 
廖则玮 ;
施心智 .
中国专利 :CN114531772B ,2024-12-24
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