一种晶振测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420992667.3

申请日：

2024-05-09

公开(公告)号：

CN222704628U

公开(公告)日：

2025-04-01

发明(设计)人：

刘成龙周胜李大霞温从众

申请人：

马鞍山成聚电子科技有限公司

申请人地址：

243031 安徽省马鞍山市花山区牡丹江路950号1栋

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/00

代理机构：

安徽勤峰知识产权代理事务所(普通合伙) 34389

代理人：

赵群伟

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种晶振频率测试装置 [P].

袁志鸿 ;

孙平 ;

刘文燕 .

中国专利 :CN201477155U ,2010-05-19

[2]

晶振测试装置 [P].

刘雄 ;

程照明 ;

琚格格 ;

刘红 ;

杨军 ;

马耿 ;

郑松峰 .

中国专利 :CN208350894U ,2019-01-08

[3]

晶振测试装置 [P].

何基常 ;

房振东 .

中国专利 :CN209486202U ,2019-10-11

[4]

晶振测试装置 [P].

孙德同 .

中国专利 :CN201397360Y ,2010-02-03

[5]

一种晶振测试装置 [P].

徐建 ;

曾武 ;

彭为民 .

中国专利 :CN216117901U ,2022-03-22

[6]

一种晶振测试装置 [P].

陈蕾 ;

杨爕 ;

叶飞 ;

翁步升 ;

吴彬强 .

中国专利 :CN215768816U ,2022-02-08

[7]

一种晶振测试装置 [P].

朱俊 ;

丁绍平 ;

晋传彬 .

中国专利 :CN208224396U ,2018-12-11

[8]

一种晶振用测试装置 [P].

梁尚清 ;

杨国卿 ;

韦博 ;

杨勇 ;

张春新 ;

胡庆亚 .

中国专利 :CN218036969U ,2022-12-13

[9]

一种MCU晶振测试装置 [P].

张柏轩 ;

刘晓辉 .

中国专利 :CN221595144U ,2024-08-23

[10]

晶振测试装置 [P].

苏敏 ;

郗小鹏 .

中国专利 :CN107121608A ,2017-09-01

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