一种基于光栅耦合器的片上光场波前测量系统及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411984678.8
申请日
2024-12-31
公开(公告)号
CN119803689A
公开(公告)日
2025-04-11
发明(设计)人
朱金龙 陈文宇 赵子鑫 刘世元
申请人
华中科技大学
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
G01J9/00
IPC分类号
代理机构
华中科技大学专利中心 42201
代理人
张琪
法律状态
公开
国省代码
湖北省 武汉市
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共 50 条
[1]
一种基于光栅耦合器的片上光场波前测量系统及方法 [P]. 
朱金龙 ;
陈文宇 ;
赵子鑫 ;
刘世元 .
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[10]
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