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成像清晰度检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510080775.2
申请日：
2025-01-17
公开(公告)号：
CN119766995A
公开(公告)日：
2025-04-04
发明(设计)人：
王家祥
申请人：
昆山丘钛光电科技有限公司
申请人地址：
215300 江苏省苏州市昆山市高新区古城路西侧、晨丰路北侧
IPC主分类号：
H04N17/00
IPC分类号：
代理机构：
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人：
葛丰贺
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-04 公开 公开
2025-04-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04N 17/00申请日:20250117
共 50 条
[1]
成像清晰度检测方法及相关设备 [P]. 
刘慧洁 ;
包晨强 ;
肖孝奇 ;
后博文 ;
高燕平 ;
陈烨飞 .
中国专利 :CN119766991A ,2025-04-04
[2]
图像清晰度确定方法及装置、存储介质和电子设备 [P]. 
黄加紫 .
中国专利 :CN113052815B ,2021-06-29
[3]
图像清晰度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
侯康 ;
闫亚军 ;
刘东旭 ;
曹志超 .
中国专利 :CN112200775A ,2021-01-08
[4]
图像清晰度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李绪琴 ;
薛远 ;
王亚运 ;
曹天宇 ;
季栋 ;
户磊 .
中国专利 :CN113077459B ,2021-07-06
[5]
图像清晰度检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
张乐 .
中国专利 :CN108074237B ,2018-05-25
[6]
人脸图像清晰度检测方法、装置、电子设备、及介质 [P]. 
朱海荣 ;
胡仁伟 ;
闫海龙 ;
季华 ;
王其超 .
中国专利 :CN114332983A ,2022-04-12
[7]
对焦清晰度检测方法及装置、存储介质和电子设备 [P]. 
颜光宇 .
中国专利 :CN115460348B ,2024-04-23
[8]
对焦清晰度检测方法及装置、存储介质和电子设备 [P]. 
颜光宇 .
中国专利 :CN115460348A ,2022-12-09
[9]
图像清晰度的检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈功 .
中国专利 :CN119722630A ,2025-03-28
[10]
图像清晰度提升方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
刘俊贤 .
中国专利 :CN112215768A ,2021-01-12
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