四极杆质量分析装置及方法以及程序记录介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011344731.X

申请日：

2020-11-26

公开(公告)号：

CN112992648B

公开(公告)日：

2025-04-04

发明(设计)人：

笹井浩平笹仓一志池山俊広井上贵仁内原博

申请人：

株式会社堀场STEC 株式会社堀场制作所

申请人地址：

日本京都府京都市

IPC主分类号：

H01J49/42

IPC分类号：

H01J49/00

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

包跃华;金玉兰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-04	授权	授权

共 50 条

[1]

四极杆质量分析装置及方法以及程序记录介质 [P].

笹井浩平 ;

笹仓一志 ;

池山俊広 ;

井上贵仁 ;

内原博 .

中国专利 :CN112992648A ,2021-06-18

[2]

四极型质量分析装置 [P].

水谷司朗 ;

菅原博史 .

中国专利 :CN103069540B ,2013-04-24

[3]

四极型质量分析装置 [P].

向畑和男 .

中国专利 :CN102037538A ,2011-04-27

[4]

四极型质量分析装置 [P].

水谷司朗 .

中国专利 :CN102834897A ,2012-12-19

[5]

质量分析装置以及质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 ;

长谷川英树 ;

马场崇 ;

和气泉 .

中国专利 :CN101814415B ,2010-08-25

[6]

四极型质量分析装置 [P].

水谷司朗 .

中国专利 :CN103370766B ,2013-10-23

[7]

四极质量分析器及质量分析方法 [P].

蒋公羽 ;

孙文剑 .

中国专利 :CN110729171B ,2020-01-24

[8]

四极质量分析装置 [P].

西口克 .

日本专利 :CN112640034B ,2024-10-11

[9]

四极质量分析装置 [P].

西口克 .

中国专利 :CN112640035A ,2021-04-09

[10]

四极质量分析装置 [P].

西口克 .

日本专利 :CN112640035B ,2024-08-09

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