一种测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411991216.9

申请日：

2024-12-30

公开(公告)号：

CN119756801A

公开(公告)日：

2025-04-04

发明(设计)人：

周杰黄斌胡礼初苏红亮汤艳丰

申请人：

昂纳科技（深圳）集团股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山新区翠景路35号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360

代理人：

于青娟

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-04	公开	公开
2025-04-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20241230

共 50 条

[1]

一种测试系统及测试方法 [P].

郭桂榕 ;

杨霞 ;

邹国强 .

中国专利 :CN111060772B ,2020-04-24

[2]

一种测试系统、测试方法及测试设备 [P].

刘阳 ;

穆林 ;

孙磊磊 ;

李中 ;

方成 ;

郝守刚 .

中国专利 :CN113110384A ,2021-07-13

[3]

一种测试载具、测试系统及测试方法 [P].

潘庆国 ;

周虎 ;

刘富明 ;

臧宏 ;

许晨煜 ;

胡明昆 ;

杨国瑞 .

中国专利 :CN115327342A ,2022-11-11

[4]

测试系统及测试方法 [P].

熊雨凯 ;

陆欣 ;

李新华 .

中国专利 :CN103514926B ,2014-01-15

[5]

测试组件、测试系统及测试方法 [P].

侯浩 .

中国专利 :CN115565600B ,2025-12-09

[6]

测试组件、测试系统及测试方法 [P].

侯浩 .

中国专利 :CN115565600A ,2023-01-03

[7]

一种多工位芯片测试设备、测试系统及测试方法 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

唐仁伟 .

中国专利 :CN118519003A ,2024-08-20

[8]

测试设备、测试系统及方法 [P].

武航 ;

常守亮 ;

付建军 ;

林富 ;

李宗华 .

中国专利 :CN115639803A ,2023-01-24

[9]

一种测试系统及测试方法 [P].

俞涛 ;

李娟 ;

孙涛 ;

吴贤静 ;

张家智 .

中国专利 :CN108919785A ,2018-11-30

[10]

一种测试方法及测试系统 [P].

宋德甫 .

中国专利 :CN108519207A ,2018-09-11

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