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一种岩石矿物光谱分析测量设备及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411862219.2
申请日
:
2024-12-17
公开(公告)号
:
CN119715639A
公开(公告)日
:
2025-03-28
发明(设计)人
:
罗学辉
邓华
王瑞
满玉凯
胡雪冰
刘浩
李海东
刘恺
李鹏飞
申请人
:
中国地质调查局廊坊自然资源综合调查中心
申请人地址
:
065000 河北省廊坊市广阳道93号
IPC主分类号
:
G01N23/223
IPC分类号
:
G01N1/28
G01N1/34
G01N23/2202
G01N23/2204
代理机构
:
北京利行天下专利代理有限公司 16225
代理人
:
唐椿凤
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
河北省 廊坊市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-15
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/223申请日:20241217
2025-11-28
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01N 23/223申请公布日:20250328
2025-03-28
公开
公开
共 50 条
[1]
光谱分析系统及光谱分析设备
[P].
杨晓杰
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杨晓杰
;
杨国文
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杨国文
;
李靖
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李靖
;
赵卫东
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赵卫东
.
中国专利
:CN110836866A
,2020-02-25
[2]
一种矿物光谱分析装置及分析方法
[P].
周振华
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机构:
中国地质科学院矿产资源研究所
中国地质科学院矿产资源研究所
周振华
;
张成
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机构:
中国地质科学院矿产资源研究所
中国地质科学院矿产资源研究所
张成
;
陈欣
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机构:
中国地质科学院矿产资源研究所
中国地质科学院矿产资源研究所
陈欣
;
张琛明
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机构:
中国地质科学院矿产资源研究所
中国地质科学院矿产资源研究所
张琛明
.
中国专利
:CN120971473A
,2025-11-18
[3]
光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法
[P].
林田纯弥
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
林田纯弥
;
柿下容弓
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
柿下容弓
;
服部英春
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
服部英春
;
堀入纯
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
堀入纯
.
日本专利
:CN120112781A
,2025-06-06
[4]
光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
上野楠夫
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
上野楠夫
;
村上达希
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
村上达希
;
箕轮大辉
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
箕轮大辉
.
日本专利
:CN121057932A
,2025-12-02
[5]
光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
西村克美
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西村克美
.
中国专利
:CN107367469B
,2017-11-21
[6]
光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
冯胜
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冯胜
.
中国专利
:CN115343227A
,2022-11-15
[7]
光谱分析系统以及光谱分析方法
[P].
藤里砂
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
藤里砂
;
村上幸雄
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
村上幸雄
;
岩﨑祥子
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
岩﨑祥子
.
日本专利
:CN118111923A
,2024-05-31
[8]
一种光谱分析仪和光谱分析方法
[P].
俞晓峰
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俞晓峰
;
顾海涛
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顾海涛
;
吕全超
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吕全超
;
李萍
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李萍
;
俞大海
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俞大海
;
王健
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王健
.
中国专利
:CN102564591B
,2012-07-11
[9]
远程光谱分析设备及相关的远程光谱分析方法
[P].
菲利浦·赫伯特
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菲利浦·赫伯特
;
弗朗索瓦·勒迈特
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弗朗索瓦·勒迈特
;
谢维尔·奥尔立克
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谢维尔·奥尔立克
;
蒂伯·达尔缇佳龙古
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蒂伯·达尔缇佳龙古
.
中国专利
:CN108931485B
,2018-12-04
[10]
一种光谱分析系统和光谱分析方法
[P].
程嘉
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程嘉
;
邓龙虎
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邓龙虎
;
刘伟峰
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刘伟峰
;
季林红
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季林红
;
蒲以康
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蒲以康
.
中国专利
:CN106546330A
,2017-03-29
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