用于对部件进行X射线检查的方法、系统和计算机程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380040014.3

申请日：

2023-05-11

公开(公告)号：

CN119895253A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

塞德里克·弗拉格瑙克莱门特·雷马查斯特凡纳·鲁朱利安·贝坦库尔

申请人：

国家科学研究中心赛峰集团巴黎萨克莱高等师范学院

申请人地址：

法国巴黎

IPC主分类号：

G01N23/046

IPC分类号：

G01B15/04 G06T7/60

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

尚玲;陈鑫

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/046申请日:20230511

共 50 条

[1]

对计算机程序进行测试的方法和系统 [P].

曾雅雷 .

中国专利 :CN115017046A ,2022-09-06

[2]

通过X射线监测部件的方法、装置和计算机程序 [P].

塞德里克·弗拉格瑙 ;

斯特凡纳·鲁 ;

朱利安·贝坦库尔 .

法国专利 :CN118043650A ,2024-05-14

[3]

X射线设备的调温方法、X射线设备和计算机程序产品 [P].

B·克莱斯勒 ;

A·克雷奇曼 ;

S·韦尔费尔 ;

T·霍夫曼 ;

B·雷茨 .

德国专利 :CN120570620A ,2025-09-02

[4]

X射线设备的调温方法、X射线设备和计算机程序产品 [P].

S·韦尔费尔 ;

T·霍夫曼 ;

A·克雷奇曼 ;

B·克莱斯勒 ;

R·克里斯特 ;

M·马吉 .

德国专利 :CN120918687A ,2025-11-11

[5]

用于对X射线图像系列进行进展监测的方法、系统和计算机程序单元 [P].

A·叶菲托洛夫 ;

H·舒尔茨 ;

S·雷尼施 .

:CN120417840A ,2025-08-01

[6]

用于配置检查系统的计算机化方法、计算机程序产品和检查系统 [P].

阿米尔·休汉 ;

伊多·多尔夫 ;

亚里夫·西蒙维奇 .

中国专利 :CN108693184B ,2018-10-23

[7]

对计算机程序进行测试的方法和设备 [P].

曾雅雷 .

中国专利 :CN113238962A ,2021-08-10

[8]

对计算机程序进行测试的方法和设备 [P].

宋强 ;

黄朝源 ;

江威德 .

中国专利 :CN103577314B ,2014-02-12

[9]

用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法和X射线系统 [P].

J·E·弗雷登贝里 ;

M·V·伦德奎斯特 ;

E·勒斯尔 ;

K·埃哈德 ;

T·克勒 ;

B·塞德斯特伦 ;

H-I·马克 .

中国专利 :CN105074774B ,2015-11-18

[10]

用于对多个项进行分类的系统、方法和计算机程序产品 [P].

阿萨夫·阿斯巴克 ;

波阿斯·科恩 .

中国专利 :CN109598698A ,2019-04-09

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