基于测试设备的存储芯片个性化修复方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510376906.1

申请日：

2025-03-28

公开(公告)号：

CN119889414A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

潘志富郭琦薛如军张悦杨爱民朱超

申请人：

悦芯科技股份有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层

IPC主分类号：

G11C29/44

IPC分类号：

G06F18/23213

代理机构：

北京腾远知识产权代理事务所(普通合伙) 11608

代理人：

刘晖

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-03	授权	授权
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/44申请日:20250328

共 50 条

[1]

基于测试设备的存储芯片个性化修复方法 [P].

潘志富 ;

郭琦 ;

薛如军 ;

张悦 ;

杨爱民 ;

朱超 .

中国专利 :CN119889414B ,2025-06-03

[2]

一种基于测试设备的存储芯片的修复方法 [P].

潘志富 ;

刘金海 ;

李海涛 ;

郭琦 ;

何肖珉 .

中国专利 :CN117727356A ,2024-03-19

[3]

一种基于测试设备的存储芯片的修复方法 [P].

潘志富 ;

刘金海 ;

李海涛 ;

郭琦 ;

何肖珉 .

中国专利 :CN117727356B ,2024-05-07

[4]

存储芯片个性化信息写入方法 [P].

朱渊源 .

中国专利 :CN115019875A ,2022-09-06

[5]

一种存储芯片中稀疏失效单元的修复方法 [P].

潘志富 ;

花磊 ;

郭琦 ;

薛如军 ;

张悦 ;

杨爱民 .

中国专利 :CN119446241A ,2025-02-14

[6]

一种存储芯片中稀疏失效单元的修复方法 [P].

潘志富 ;

花磊 ;

郭琦 ;

薛如军 ;

张悦 ;

杨爱民 .

中国专利 :CN119446241B ,2025-04-22

[7]

一种存储芯片测试设备 [P].

张亚伟 ;

李婷婷 .

中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04

[8]

一种存储芯片稀疏失效单元电路的修复方法 [P].

潘志富 ;

刘金海 ;

李海涛 ;

郭琦 ;

陈尚成 .

中国专利 :CN117831596B ,2024-05-24

[9]

一种存储芯片稀疏失效单元电路的修复方法 [P].

潘志富 ;

刘金海 ;

李海涛 ;

郭琦 ;

陈尚成 .

中国专利 :CN117831596A ,2024-04-05

[10]

一种拆卸方便的存储芯片测试设备 [P].

王智慧 .

中国专利 :CN222244661U ,2024-12-27

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