一种高精度平面度检测治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421720982.7

申请日：

2024-07-19

公开(公告)号：

CN222799914U

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

张朝磊阳力

申请人：

成都畅梵科技有限公司

申请人地址：

611743 四川省成都市高新区双柏东一街99号1栋1层1室

IPC主分类号：

G01B5/28

IPC分类号：

G01B5/00 G01B3/18

代理机构：

成都欣圣知识产权代理有限公司 51292

代理人：

胡小亮

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种平面度检测治具 [P].

尤小峰 ;

谢经宝 ;

唐玉峰 .

中国专利 :CN222165979U ,2024-12-13

[2]

一种新型平面度检测治具 [P].

吴赛明 ;

林仁峰 ;

吴辉 .

中国专利 :CN220708297U ,2024-04-02

[3]

平面度检测治具 [P].

程晓继 .

中国专利 :CN211696220U ,2020-10-16

[4]

一种高精度智能电子结构件平面度检测治具 [P].

姜建华 .

中国专利 :CN211373483U ,2020-08-28

[5]

平面度检测治具 [P].

黄隆 ;

蔡斯特 ;

何红超 .

中国专利 :CN206339192U ,2017-07-18

[6]

平面度检测治具 [P].

汤晓童 .

中国专利 :CN211696217U ,2020-10-16

[7]

平面度检测治具 [P].

朱成都 ;

郝东峰 ;

贺琥 ;

刘宇 .

中国专利 :CN2935083Y ,2007-08-15

[8]

一种高精度检测治具 [P].

周斌 ;

陈湘兴 ;

史林成 .

中国专利 :CN214582895U ,2021-11-02

[9]

一种平面度检测治具 [P].

靳续刚 .

中国专利 :CN205102763U ,2016-03-23

[10]

一种平面度检测治具 [P].

胡伟华 .

中国专利 :CN206540535U ,2017-10-03

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