测试分选装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421402113.X

申请日：

2024-06-19

公开(公告)号：

CN222814735U

公开(公告)日：

2025-04-29

发明(设计)人：

练俭鹏胡鹏飞

申请人：

杭州长川科技股份有限公司

申请人地址：

310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号

IPC主分类号：

H05K7/20

IPC分类号：

H05K5/06 G01R31/00 G01R31/28 G01R1/04

代理机构：

上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402

代理人：

刘明贵

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-29	授权	授权

共 50 条

[1]

分选装置及测试分选系统 [P].

陈恕华 ;

高峰 .

中国专利 :CN220716819U ,2024-04-05

[2]

自动测试分选装置 [P].

郑祖松 .

中国专利 :CN208033058U ,2018-11-02

[3]

磁环测试分选装置 [P].

许贵林 .

中国专利 :CN212328943U ,2021-01-12

[4]

电阻器测试分选装置 [P].

尧巍华 ;

宋秀鹏 .

中国专利 :CN206444915U ,2017-08-29

[5]

一种测试分选装置 [P].

梁猛 ;

赵凯 ;

卢升 ;

林海涛 .

中国专利 :CN212856708U ,2021-04-02

[6]

谐振器测试分选装置 [P].

陈康 ;

吴群仙 .

中国专利 :CN203853298U ,2014-10-01

[7]

倒装测试分选装置 [P].

薛克瑞 ;

白志坚 ;

徐坤明 ;

张伟权 .

中国专利 :CN107505583A ,2017-12-22

[8]

一种芯片测试分选装置 [P].

杨荣辉 ;

陆小艺 .

中国专利 :CN222220377U ,2024-12-24

[9]

一种芯片测试分选装置 [P].

陈钢全 ;

朱海马 ;

王成欣 ;

尚利 .

中国专利 :CN222710248U ,2025-04-04

[10]

一种芯片测试分选装置 [P].

徐辉 ;

廖志国 ;

李斌 .

中国专利 :CN220658415U ,2024-03-26

← 1 2 3 4 5 →