读干扰检测方法、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411988722.2
申请日
2024-12-31
公开(公告)号
CN119889413A
公开(公告)日
2025-04-25
发明(设计)人
高雨婷 叶敏 李明豪
申请人
得一微电子股份有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南七道17号深圳市数字技术园A1栋七层A区
IPC主分类号
G11C29/44
IPC分类号
G11C29/46
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
王莎
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
读干扰检测方法、设备及存储介质 [P]. 
高雨婷 ;
叶敏 ;
李明豪 .
中国专利 :CN119889413B ,2025-12-26
[2]
存储器的读干扰影响检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
曹志忠 ;
陈寄福 ;
吴大畏 ;
李晓强 .
中国专利 :CN113971977B ,2024-08-20
[3]
存储器的读干扰影响检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
曹志忠 ;
陈寄福 ;
吴大畏 ;
李晓强 .
中国专利 :CN113971977A ,2022-01-25
[4]
一种读干扰检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
裴永航 ;
张萌 ;
李栋 .
中国专利 :CN118689410A ,2024-09-24
[5]
一种读干扰检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
裴永航 ;
张萌 ;
李栋 .
中国专利 :CN118689410B ,2024-11-19
[6]
SSD读性能优化方法、装置、存储介质及存储设备 [P]. 
宛丽娟 ;
薛红军 ;
蒲强 ;
孟欣 .
中国专利 :CN114791790A ,2022-07-26
[7]
读干扰处理方法、检测方法及存储设备 [P]. 
罗哲 ;
刘浒 ;
陈盼 ;
周丽丽 ;
汪征伟 ;
陶伟 .
中国专利 :CN121054067A ,2025-12-02
[8]
磁场干扰检测方法及磁场干扰检测设备、存储介质 [P]. 
辜瑞东 ;
韩晓 ;
曾博壹 .
中国专利 :CN121208718A ,2025-12-26
[9]
读干扰优化方法、电子设备及存储介质 [P]. 
罗哲 .
中国专利 :CN120356505A ,2025-07-22
[10]
一种读干扰检测方法、读干扰检测装置、介质及产品 [P]. 
陈旭峰 ;
高伟 .
中国专利 :CN119557057B ,2025-05-13