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一种以太网PHY芯片测试装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510207527.X
申请日
:
2025-02-25
公开(公告)号
:
CN119986327A
公开(公告)日
:
2025-05-13
发明(设计)人
:
陈默
王庆
王国雄
申请人
:
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
申请人地址
:
430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267
代理人
:
郭志霄
法律状态
:
公开
国省代码
:
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-05-13
公开
公开
2025-10-10
授权
授权
2025-05-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250225
共 50 条
[1]
一种以太网PHY芯片测试装置及方法
[P].
陈默
论文数:
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机构:
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
陈默
;
王庆
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机构:
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
王庆
;
王国雄
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机构:
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
王国雄
.
中国专利
:CN119986327B
,2025-10-10
[2]
一种以太网PHY芯片的测试系统
[P].
杨超
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杨超
;
张金凤
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张金凤
;
王国力
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王国力
;
马成英
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
马成英
;
张宇亮
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张宇亮
;
李文周
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
李文周
;
刘月晖
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
刘月晖
;
金荣康
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
金荣康
;
宋秋红
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
宋秋红
.
中国专利
:CN120358179A
,2025-07-22
[3]
一种以太网PHY芯片的测试方法
[P].
杨超
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杨超
;
张金凤
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张金凤
;
王国力
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王国力
;
马成英
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
马成英
;
张宇亮
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张宇亮
;
李文周
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
李文周
;
刘月晖
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
刘月晖
;
金荣康
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
金荣康
;
宋秋红
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
宋秋红
.
中国专利
:CN120075106A
,2025-05-30
[4]
以太网测试装置及以太网测试系统
[P].
张华峰
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机构:
安波福电子(苏州)有限公司
安波福电子(苏州)有限公司
张华峰
;
唐锋
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机构:
安波福电子(苏州)有限公司
安波福电子(苏州)有限公司
唐锋
;
杨松青
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机构:
安波福电子(苏州)有限公司
安波福电子(苏州)有限公司
杨松青
.
中国专利
:CN220511133U
,2024-02-20
[5]
车载以太网测试装置及车载以太网测试方法
[P].
请求不公布姓名
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昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
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请求不公布姓名
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昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
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请求不公布姓名
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昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
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请求不公布姓名
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昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
陈忠明
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昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
陈忠明
.
中国专利
:CN119520303A
,2025-02-25
[6]
一种以太网PHY芯片的功能测试方法
[P].
杨超
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杨超
;
张金凤
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张金凤
;
王国力
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王国力
;
马成英
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
马成英
;
张宇亮
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
张宇亮
;
李文周
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
李文周
;
刘月晖
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
刘月晖
;
金荣康
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
金荣康
;
宋秋红
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
宋秋红
.
中国专利
:CN120075105A
,2025-05-30
[7]
以太网PHY芯片与以太网光模块耦合电路
[P].
熊伟
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熊伟
.
中国专利
:CN203661101U
,2014-06-18
[8]
一种以太网PHY收发器芯片MII端口数据测试方法
[P].
武新郑
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机构:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
中国电子科技集团公司第五十八研究所
武新郑
;
王建超
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机构:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
中国电子科技集团公司第五十八研究所
王建超
;
陈诚
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机构:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
中国电子科技集团公司第五十八研究所
陈诚
.
中国专利
:CN119814185A
,2025-04-11
[9]
列车以太网测试装置
[P].
穆瑞琦
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穆瑞琦
;
姚放
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姚放
;
赵红卫
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赵红卫
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王兢
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王兢
;
李元轩
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李元轩
;
孔元
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孔元
;
夏菲
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夏菲
;
薛江
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薛江
;
王童毅
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王童毅
;
高枫
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高枫
;
黄志平
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黄志平
.
中国专利
:CN210899207U
,2020-06-30
[10]
基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法
[P].
徐剑
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机构:
南京星问科技有限公司
南京星问科技有限公司
徐剑
;
安玫颖
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机构:
南京星问科技有限公司
南京星问科技有限公司
安玫颖
.
中国专利
:CN118984286B
,2025-02-07
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