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一种表面缺陷检测的检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510200809.7
申请日
:
2025-02-24
公开(公告)号
:
CN120121534A
公开(公告)日
:
2025-06-10
发明(设计)人
:
李乐金
张正荣
申请人
:
合肥施展科技有限公司
申请人地址
:
230000 安徽省合肥市经济技术开发区云谷路3399号神马工业园4号厂房
IPC主分类号
:
G01N21/01
IPC分类号
:
G01N21/88
G01N21/958
代理机构
:
北京奥肯律师事务所 11881
代理人
:
雷蕾
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-06-10
公开
公开
2025-06-27
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20250224
共 50 条
[1]
一种表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法
[P].
朱文兵
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朱文兵
;
罗时帅
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罗时帅
;
钱曙光
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钱曙光
;
汪炉生
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汪炉生
;
柳洪哲
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柳洪哲
;
柳云鸿
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柳云鸿
;
钱根
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钱根
;
陶磊
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陶磊
.
中国专利
:CN114813760A
,2022-07-29
[2]
表面缺陷检测方法及表面缺陷检测系统
[P].
曹文
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曹文
;
龙攀城
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龙攀城
;
丁玲玲
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丁玲玲
;
付翱
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付翱
.
中国专利
:CN115575399A
,2023-01-06
[3]
一种表面缺陷检测设备及轧钢过程中表面缺陷检测方法
[P].
林清华
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机构:
广水东日钢铁有限公司
广水东日钢铁有限公司
林清华
.
中国专利
:CN120629200A
,2025-09-12
[4]
表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置
[P].
雷富强
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
雷富强
;
马刘文
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
马刘文
;
关鹏
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
关鹏
;
张巍
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
张巍
;
任海英
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
任海英
;
李燃
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
李燃
;
杨朝晖
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
杨朝晖
;
张富超
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
张富超
.
中国专利
:CN120655644A
,2025-09-16
[5]
一种基于苹果表面缺陷检测系统的苹果表面缺陷检测方法
[P].
赵春江
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赵春江
;
张驰
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张驰
;
黄文倩
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黄文倩
;
郭志明
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郭志明
;
王庆艳
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王庆艳
;
李江波
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李江波
;
李斌
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李斌
.
中国专利
:CN102854192B
,2013-01-02
[6]
表面缺陷检测系统、表面缺陷检测方法及表面检测产线
[P].
曹文
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曹文
;
龙攀城
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龙攀城
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丁玲玲
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丁玲玲
;
付翱
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付翱
.
中国专利
:CN115420750A
,2022-12-02
[7]
一种表面缺陷检测方法
[P].
曾向荣
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曾向荣
;
钟志伟
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钟志伟
;
刘衍
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刘衍
;
张政
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张政
.
中国专利
:CN112907510A
,2021-06-04
[8]
表面缺陷检测系统和方法
[P].
张孟
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张孟
;
廖方诚
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廖方诚
;
曾江东
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曾江东
.
中国专利
:CN110161045A
,2019-08-23
[9]
一种涂层表面缺陷的检测方法
[P].
吕永胜
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吕永胜
;
赵辉
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赵辉
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王向伟
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王向伟
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沙建军
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沙建军
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彭锐晖
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彭锐晖
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高鑫
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高鑫
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张公韬
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张公韬
.
中国专利
:CN111638218A
,2020-09-08
[10]
表面缺陷检测方法、表面缺陷检测模型的训练方法及装置
[P].
黎文富
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机构:
深圳杰泰科技有限公司
深圳杰泰科技有限公司
黎文富
;
缪泽军
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机构:
深圳杰泰科技有限公司
深圳杰泰科技有限公司
缪泽军
;
闫奕璞
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机构:
深圳杰泰科技有限公司
深圳杰泰科技有限公司
闫奕璞
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蒙均
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深圳杰泰科技有限公司
深圳杰泰科技有限公司
蒙均
;
张广平
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机构:
深圳杰泰科技有限公司
深圳杰泰科技有限公司
张广平
;
白建强
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机构:
深圳杰泰科技有限公司
深圳杰泰科技有限公司
白建强
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中国专利
:CN118097301B
,2024-07-05
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