温度校准方法、装置、设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510081394.6

申请日：

2025-01-16

公开(公告)号：

CN119969664A

公开(公告)日：

2025-05-13

发明(设计)人：

王登军王永超刘才学

申请人：

深圳市基克纳科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区前海科兴科学园1号楼605

IPC主分类号：

A24F40/80

IPC分类号：

A24F40/57

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

曾国

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):A24F 40/80申请日:20250116
2025-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

温度控制方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

孙天宇 ;

陈广辉 .

中国专利 :CN120694450A ,2025-09-26

[2]

设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

王登军 ;

王永超 ;

刘才学 .

中国专利 :CN119699686A ,2025-03-28

[3]

设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

王登军 ;

周云飞 .

中国专利 :CN119867399A ,2025-04-25

[4]

电压校准方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

黄俊骁 ;

王超 ;

张乐 ;

荆麟 ;

傅强 .

中国专利 :CN119010904A ,2024-11-22

[5]

光源校准方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

赵宇鹏 .

中国专利 :CN115022603A ,2022-09-06

[6]

电压校准方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

黄俊骁 ;

王超 ;

张乐 ;

荆麟 ;

傅强 .

中国专利 :CN119010904B ,2025-10-31

[7]

校准方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

谢泽亮 ;

石祖华 ;

彭宇锋 .

中国专利 :CN119420432A ,2025-02-11

[8]

天线校准的方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

石璟 ;

章勇 ;

郑未 .

中国专利 :CN115396049A ,2022-11-25

[9]

SOC校准方法、装置、设备、车辆、存储介质及程序产品 [P].

李玉婷 ;

周继浩 ;

蔡小丽 .

中国专利 :CN121027847A ,2025-11-28

[10]

天线校准的方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

石璟 ;

章勇 ;

郑未 .

中国专利 :CN115396049B ,2025-08-29

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