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智能卡测试系统

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202421839557.X
申请日：
2024-07-31
公开(公告)号：
CN222896425U
公开(公告)日：
2025-05-23
发明(设计)人：
张磊 张楠 常峰
申请人：
北京中电华大电子设计有限责任公司
申请人地址：
102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋
IPC主分类号：
G06K7/00
IPC分类号：
代理机构：
北京成创同维知识产权代理有限公司 11449
代理人：
刘静
法律状态：
授权
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-23 授权 授权
共 50 条
[1]
智能卡测试系统 [P]. 
张磊 ;
张楠 ;
常峰 .
中国专利 :CN118917329A ,2024-11-08
[2]
一种智能卡测试系统 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN223123168U ,2025-07-18
[3]
智能卡和智能卡系统 [P]. 
黎理明 ;
黎理杰 .
中国专利 :CN210983466U ,2020-07-10
[4]
智能卡测试系统及方法 [P]. 
郑爱华 .
中国专利 :CN101126793A ,2008-02-20
[5]
智能卡系统 [P]. 
郭治 .
中国专利 :CN205899580U ,2017-01-18
[6]
智能卡的测试系统、测试设备、测试方法 [P]. 
张洁 ;
陈超 ;
张志红 .
中国专利 :CN108197019A ,2018-06-22
[7]
智能卡温度测试系统及方法 [P]. 
张倬 .
中国专利 :CN104635070A ,2015-05-20
[8]
智能卡芯片测试机 [P]. 
黄振权 ;
毛双 .
中国专利 :CN206178060U ,2017-05-17
[9]
智能卡测试工装 [P]. 
段静 ;
刘姣姣 ;
周庆亮 ;
张瑶 ;
李学霞 ;
尹同泽 ;
尤磊 ;
吴晓磊 .
中国专利 :CN223565807U ,2025-11-18
[10]
智能卡测试方法、移动终端和测试系统 [P]. 
王磊 ;
周向涛 ;
梁培清 ;
张六一 .
中国专利 :CN106817276A ,2017-06-09
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