芯片的电源完整性签核方法、装置、存储介质及电子装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411863168.5

申请日：

2024-12-17

公开(公告)号：

CN119940241A

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

王卓

申请人：

北京清微智能科技有限公司

申请人地址：

100096 北京市海淀区建枫路（南延）6号院1号楼8层801

IPC主分类号：

G06F30/3308

IPC分类号：

代理机构：

北京索睿邦知识产权代理有限公司 11679

代理人：

李根

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	公开	公开
2025-05-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/3308申请日:20241217

共 50 条

[1]

芯片的电源完整性签核方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王星 ;

柳雷 .

中国专利 :CN117952053A ,2024-04-30

[2]

芯片的电源完整性的实现方法、装置、设备及存储介质 [P].

王星 ;

柳雷 .

中国专利 :CN117952055A ,2024-04-30

[3]

电源完整性仿真系统、电源完整性仿真方法及存储介质 [P].

周国名 .

中国专利 :CN118036522A ,2024-05-14

[4]

电源完整性仿真方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN119167860A ,2024-12-20

[5]

软件完整性的检测方法、装置、电子装置和存储介质 [P].

平志明 ;

朱燕萍 ;

郭靖雯 ;

项明 .

中国专利 :CN113536309B ,2025-03-14

[6]

软件完整性的检测方法、装置、电子装置和存储介质 [P].

平志明 ;

朱燕萍 ;

郭靖雯 ;

项明 .

中国专利 :CN113536309A ,2021-10-22

[7]

一种芯片电源完整性仿真方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘新功 ;

刘蒲霞 .

中国专利 :CN118153493A ,2024-06-07

[8]

对象完整性的确定方法及装置、存储介质、电子装置 [P].

胡海波 ;

张兴明 ;

潘华东 ;

唐邦杰 ;

刘忠耿 ;

殷俊 .

中国专利 :CN112613382A ,2021-04-06

[9]

对象完整性的确定方法及装置、存储介质、电子装置 [P].

胡海波 ;

张兴明 ;

潘华东 ;

唐邦杰 ;

刘忠耿 ;

殷俊 .

中国专利 :CN112613382B ,2024-04-30

[10]

芯片电源网络完整性检查方法、装置、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118228682A ,2024-06-21

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