基于多阶段贝叶斯优化的模拟集成电路测试激励生成方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510149995.6

申请日：

2025-02-11

公开(公告)号：

CN120124569A

公开(公告)日：

2025-06-10

发明(设计)人：

杨成林陈涵黄欣红温涵宇

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G06F30/38

IPC分类号：

G06F30/398 G06F111/08

代理机构：

成都行之专利代理有限公司 51220

代理人：

温利平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/38申请日:20250211
2025-11-25	授权	授权
2025-06-10	公开	公开

共 50 条

[1]

基于多阶段贝叶斯优化的模拟集成电路测试激励生成方法 [P].

杨成林 ;

陈涵 ;

黄欣红 ;

温涵宇 .

中国专利 :CN120124569B ,2025-11-25

[2]

基于贝叶斯优化的分子生成方法及装置 [P].

柳彦宏 ;

胡钧员 ;

李中伟 ;

林衍森 ;

肖波 .

中国专利 :CN117995311A ,2024-05-07

[3]

基于贝叶斯优化的分子生成方法及装置 [P].

柳彦宏 ;

胡钧员 ;

李中伟 ;

林衍森 ;

肖波 .

中国专利 :CN117995311B ,2024-06-14

[4]

一种模拟集成电路优化方法 [P].

李亨 ;

刘毅 ;

曾真 ;

董传盛 .

中国专利 :CN102289549A ,2011-12-21

[5]

基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法 [P].

郑金艳 ;

张清 ;

李思 ;

陈朋 ;

刘军 ;

李娜 ;

安鹏伟 ;

魏伟波 ;

赵常 ;

张依漪 ;

张骢 ;

季微微 ;

李昂 ;

高晓琼 ;

洪楠 .

中国专利 :CN109061447A ,2018-12-21

[6]

用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法 [P].

钟锋浩 ;

赵轶 ;

赵秀龙 .

中国专利 :CN103995226B ,2014-08-20

[7]

基于NSGA-Ⅱ的模拟集成电路参数优化设计方法及装置 [P].

曾衍瀚 ;

黄华杰 ;

廖锦锐 ;

李儒国 ;

何伟宝 ;

杨敬慈 ;

李锦韬 .

中国专利 :CN109543247B ,2019-03-29

[8]

一种基于多目标获取函数集成并行贝叶斯优化的模拟电路优化算法 [P].

曾璇 ;

周电 ;

杨帆 ;

严昌浩 ;

吕文龙 .

中国专利 :CN110750948B ,2024-07-26

[9]

一种基于多目标获取函数集成并行贝叶斯优化的模拟电路优化算法 [P].

曾璇 ;

周电 ;

杨帆 ;

严昌浩 ;

吕文龙 .

中国专利 :CN110750948A ,2020-02-04

[10]

一种模拟集成电路设计优化方法 [P].

吴玉平 ;

陈岚 ;

叶甜春 .

中国专利 :CN102314522B ,2012-01-11

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