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电子元器件外观检测设备（2）

被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202430617995.0
申请日：
2024-09-27
公开(公告)号：
CN309280194S
公开(公告)日：
2025-05-09
发明(设计)人：
胡少强 艾亮 熊立时
申请人：
湖南艾华集团股份有限公司
申请人地址：
413000 湖南省益阳市桃花仑东路（紫竹路南侧）
IPC主分类号：
10-05
IPC分类号：
代理机构：
长沙达伦知识产权代理事务所(普通合伙) 43272
代理人：
夏胜伟
法律状态：
授权
国省代码：
河北省 唐山市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-09 授权 授权
共 50 条
[1]
电子元器件外观检测设备（1） [P]. 
胡少强 ;
艾亮 ;
熊立时 .
中国专利 :CN309280193S ,2025-05-09
[2]
一种电子元器件外观检测设备 [P]. 
焦裕明 .
中国专利 :CN216560289U ,2022-05-17
[3]
电子元器件瑕疵检测设备 [P]. 
张啸宇 ;
刘骏 .
中国专利 :CN307650846S ,2022-11-11
[4]
一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P]. 
乔磊 ;
麻栋天 .
中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24
[5]
电子元器件检测设备 [P]. 
李刚 ;
何志峰 .
中国专利 :CN109283190B ,2024-02-23
[6]
电子元器件检测设备 [P]. 
李刚 ;
何志峰 .
中国专利 :CN209198340U ,2019-08-02
[7]
电子元器件检测设备 [P]. 
李刚 ;
何志峰 .
中国专利 :CN109283190A ,2019-01-29
[8]
电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
顾欣 .
中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07
[9]
一种电子元器件外观检测设备及方法 [P]. 
郭名鹏 ;
王桂林 .
中国专利 :CN115338140A ,2022-11-15
[10]
芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备 [P]. 
陈垚 ;
龚博 ;
陈悦安 ;
魏华良 ;
罗星 .
中国专利 :CN213148763U ,2021-05-07
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