一种PCB表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510121261.7

申请日：

2025-01-26

公开(公告)号：

CN119579583B

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

刘丹胡勇罗晓明

申请人：

深圳市塔联科技有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市宝安区福海街道塘尾社区永福路258号天福城商务中心501

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06N3/0464 G06T7/40 G06T7/73 G01N21/956

代理机构：

深圳市中科专匠知识产权代理事务所(普通合伙) 441096

代理人：

吴志伟;甘晓媛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250126
2025-05-06	授权	授权
2025-03-07	公开	公开

共 50 条

[1]

一种PCB表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质 [P].

刘丹 ;

胡勇 ;

罗晓明 .

中国专利 :CN119579583A ,2025-03-07

[2]

一种带钢表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质 [P].

李西兴 ;

杨睿 ;

刘拉 ;

陈新红 ;

吴锐 ;

陈佳豪 .

中国专利 :CN116596878B ,2024-04-16

[3]

一种工件表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

徐明亮 ;

姜晓恒 ;

崔丽莎 ;

吕培 ;

李振宇 ;

张晨民 ;

闫杰 ;

李丙涛 ;

刘涛 ;

乔利稳 .

中国专利 :CN112164034A ,2021-01-01

[4]

氮化物球体表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质 [P].

孙峰 ;

张辉 ;

王晟 ;

董廷霞 ;

陈友聚 ;

李泽坤 ;

张宝存 ;

卜令良 ;

肖珊珊 .

中国专利 :CN116739993B ,2025-11-21

[5]

表面缺陷的检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

徐海俊 ;

孙新 ;

许汝济 .

中国专利 :CN115063357B ,2025-11-21

[6]

表面缺陷的检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

徐海俊 ;

孙新 ;

许汝济 .

中国专利 :CN115063357A ,2022-09-16

[7]

一种晶圆表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质 [P].

刘暾东 ;

苏永彬 ;

邵桂芳 ;

吴晓敏 .

中国专利 :CN115760844B ,2025-10-17

[8]

带钢表面缺陷检测方法及系统、电子设备 [P].

汪劲雯 ;

许新科 ;

杜昱 ;

袁狄剑 .

中国专利 :CN119722607A ,2025-03-28

[9]

表面缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

郁梦辉 ;

王磊 ;

韩昭嵘 .

中国专利 :CN118655084B ,2024-12-24

[10]

表面缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

郁梦辉 ;

王磊 ;

韩昭嵘 .

中国专利 :CN118655084A ,2024-09-17

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