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一种惯性摩擦焊弱结合缺陷检测方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510124637.X
申请日
:
2025-01-26
公开(公告)号
:
CN119936193A
公开(公告)日
:
2025-05-06
发明(设计)人
:
迟大钊
李鑫
王梓明
刘宇恒
孙广宇
刘正君
申请人
:
哈尔滨工业大学
申请人地址
:
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
IPC主分类号
:
G01N29/04
IPC分类号
:
G01N29/07
G01N29/06
G01N29/22
G01N29/27
代理机构
:
哈尔滨龙创知识产权代理有限公司 23228
代理人
:
王新雨
法律状态
:
公开
国省代码
:
山东省 威海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-05-06
公开
公开
2025-05-23
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 29/04申请日:20250126
共 50 条
[1]
一种扩散焊连接界面弱接合缺陷检测方法
[P].
栾亦琳
论文数:
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栾亦琳
;
刚铁
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刚铁
.
中国专利
:CN104020220B
,2014-09-03
[2]
虚焊缺陷检测方法及检测系统
[P].
夏科
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夏科
;
樊增虎
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樊增虎
;
谢成涛
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谢成涛
;
李武岐
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李武岐
.
中国专利
:CN115326919A
,2022-11-11
[3]
虚焊缺陷检测方法及检测系统
[P].
夏科
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机构:
浙江欣旺达电子有限公司
浙江欣旺达电子有限公司
夏科
;
樊增虎
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机构:
浙江欣旺达电子有限公司
浙江欣旺达电子有限公司
樊增虎
;
谢成涛
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机构:
浙江欣旺达电子有限公司
浙江欣旺达电子有限公司
谢成涛
;
李武岐
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机构:
浙江欣旺达电子有限公司
浙江欣旺达电子有限公司
李武岐
.
中国专利
:CN115326919B
,2025-09-12
[4]
缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
杨东
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
杨东
;
李阳
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
李阳
;
李久航
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国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
李久航
;
熊荣
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
熊荣
;
张海滨
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
张海滨
;
李红川
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国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
李红川
;
王融慧
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
王融慧
;
潘彦霖
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
潘彦霖
;
杨歌
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
杨歌
;
何云
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
何云
;
马永生
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机构:
国家能源集团科学技术研究院有限公司
国家能源集团科学技术研究院有限公司
马永生
.
中国专利
:CN119666984A
,2025-03-21
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统
[P].
茹泽伟
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茹泽伟
;
刁梁
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刁梁
;
付磊
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付磊
.
中国专利
:CN113405994A
,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
朱燕明
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
朱燕明
;
王建龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王建龙
.
中国专利
:CN120847114A
,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
曹阳
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
曹阳
;
谢佳
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
谢佳
;
翟攀攀
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
翟攀攀
;
严兵华
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
严兵华
;
施明志
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
施明志
;
郭育诚
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
郭育诚
.
中国专利
:CN120213930A
,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333A
,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
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0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333B
,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
田依杉
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
兰艳平
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
兰艳平
.
中国专利
:CN115508364B
,2025-04-25
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