一种基于光栅测量原理的裂缝测量装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421736350.X
申请日
2024-07-22
公开(公告)号
CN222865854U
公开(公告)日
2025-05-13
发明(设计)人
高久庆 朱天涯 苗大勇 王博 王威
申请人
中铁十九局集团矿业投资有限公司
申请人地址
100161 北京市丰台区风荷曲苑2号楼
IPC主分类号
G01B11/02
IPC分类号
G01B11/22 G01B5/02 G01B5/18
代理机构
昆明合盛知识产权代理事务所(普通合伙) 53210
代理人
赵振清
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种基于光纤光栅原理的内部位移测量装置 [P]. 
刘付鹏 ;
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[2]
一种裂缝测量装置 [P]. 
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[3]
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李文雅 ;
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郜亚辉 ;
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魏凯凯 ;
赵秀琴 ;
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[4]
一种基于光纤光栅的测量装置 [P]. 
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[5]
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[6]
一种工程裂缝测量装置 [P]. 
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[7]
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[8]
一种便于测量的裂缝宽度测量装置 [P]. 
曹兵兵 ;
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[9]
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[10]
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唐健 .
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