测试系统、测试控制方法、测试方法和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510160872.2

申请日：

2025-02-13

公开(公告)号：

CN120104475A

公开(公告)日：

2025-06-06

发明(设计)人：

陈江群廖秋桂曹兵李晓亮罗富贵

申请人：

茂佳科技（广东）有限公司

申请人地址：

516000 广东省惠州市仲恺高新区陈江街道侨光路1号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

H04N17/00

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

张翠

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-06	公开	公开
2025-06-24	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250213

共 50 条

[1]

测试系统、测试方法、控制设备和存储介质 [P].

刘均 ;

温鑫 .

中国专利 :CN110850269A ,2020-02-28

[2]

测试系统、测试方法以及存储介质 [P].

蒋思龙 ;

张恒 .

中国专利 :CN118035011A ,2024-05-14

[3]

镜头测试方法、测试系统、控制装置和存储介质 [P].

姚波 ;

钟俊宇 ;

范宇 .

中国专利 :CN115436023B ,2025-04-25

[4]

镜头测试方法、测试系统、控制装置和存储介质 [P].

姚波 ;

钟俊宇 ;

范宇 .

中国专利 :CN115436023A ,2022-12-06

[5]

芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质 [P].

董莎莎 .

中国专利 :CN119881593A ,2025-04-25

[6]

测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

刘乐 ;

赵海洋 ;

梅利文 ;

王伟 .

中国专利 :CN118625098A ,2024-09-10

[7]

控制器测试方法、装置、控制设备、测试系统和存储介质 [P].

王学武 ;

陈志强 ;

叶陈鸿 ;

刘亚洲 ;

周鹏宇 ;

廖坤 ;

易红艳 ;

王驿骁 ;

王斌 ;

范翔 .

中国专利 :CN119575935A ,2025-03-07

[8]

测试系统、测试方法和测试系统用程序存储介质 [P].

道北俊行 ;

川添宽 ;

古川和树 ;

廣濑翼 ;

盐见健司 .

日本专利 :CN117693673A ,2024-03-12

[9]

主板测试系统、方法、装置和存储介质 [P].

李云 ;

丘志相 ;

向仁涛 .

中国专利 :CN115372803A ,2022-11-22

[10]

天线测试方法、天线测试设备、系统和存储介质 [P].

陈岚 ;

石一逴 .

中国专利 :CN118501558A ,2024-08-16

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