光检测电路、芯片及光检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510168823.3

申请日：

2025-02-14

公开(公告)号：

CN120105495A

公开(公告)日：

2025-06-06

发明(设计)人：

于慧红刘明磊陈永强

申请人：

北京中电华大电子设计有限责任公司

申请人地址：

102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋

IPC主分类号：

G06F21/71

IPC分类号：

G06F21/81

代理机构：

北京成创同维知识产权代理有限公司 11449

代理人：

李向英

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-06	公开	公开
2025-06-24	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 21/71申请日:20250214

共 50 条

[1]

一种光检测电路及光检测方法、芯片 [P].

顾申 ;

李军 ;

雷翻翻 .

中国专利 :CN111090035A ,2020-05-01

[2]

光检测电路、光检测方法和光检测装置 [P].

王志良 .

中国专利 :CN108519151B ,2018-09-11

[3]

光检测电路及安全芯片 [P].

豆玉娇 .

中国专利 :CN221123589U ,2024-06-11

[4]

光检测电路及其检测方法、光检测装置 [P].

钟杰兴 ;

吴峙磊 .

中国专利 :CN108061599A ,2018-05-22

[5]

光检测电路及其方法 [P].

蓝伟庭 ;

颜呈机 ;

郑如恬 .

中国专利 :CN102128679B ,2011-07-20

[6]

一种光检测电路及光检测方法 [P].

易志中 ;

陈文强 .

中国专利 :CN106768319B ,2017-05-31

[7]

光检测电路、光检测方法和显示装置 [P].

郑智仁 ;

王鹏鹏 ;

刘伟 ;

曹学友 ;

丁小梁 ;

韩艳玲 ;

张平 .

中国专利 :CN108304803B ,2018-07-20

[8]

光检测方法、光检测电路、显示屏及电子设备 [P].

田正 .

中国专利 :CN114485928A ,2022-05-13

[9]

光检测电路 [P].

内藤文哉 .

日本专利 :CN120826590A ,2025-10-21

[10]

光检测电路 [P].

陈良生 ;

任建军 .

中国专利 :CN1494159A ,2004-05-05

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