一种高精度芯片测试机定位装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421243500.3

申请日：

2024-06-03

公开(公告)号：

CN222850649U

公开(公告)日：

2025-05-09

发明(设计)人：

江卫东毕振星

申请人：

安测半导体技术（江苏）有限公司

申请人地址：

225000 江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

代理机构：

北京文苑专利代理有限公司 11516

代理人：

于利晓

法律状态：

授权

国省代码：

河北省保定市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-09	授权	授权

共 50 条

[1]

一种微型芯片高精度测试机构 [P].

孔祺荣 .

中国专利 :CN216351079U ,2022-04-19

[2]

一种高精度芯片定位测试设备 [P].

唐玲玲 ;

唐华艳 .

中国专利 :CN218497078U ,2023-02-17

[3]

一种高精度芯片定位测试设备 [P].

李辉 ;

南媛 .

中国专利 :CN222439539U ,2025-02-07

[4]

一种热敏芯片高精度恒温空气测试机 [P].

管文喜 ;

孙多利 ;

涂玉 .

中国专利 :CN204536423U ,2015-08-05

[5]

一种高精度芯片测试模组 [P].

丘劭晖 ;

蔡庆鑫 ;

杨洁 .

中国专利 :CN222979731U ,2025-06-13

[6]

一种芯片测试机用芯片定位机构 [P].

朱松 .

中国专利 :CN210778490U ,2020-06-16

[7]

一种高精度芯片定位装置 [P].

黄海华 ;

刘期斌 ;

向秋澄 ;

庞树帅 ;

张伟 ;

邓杰 ;

路小龙 .

中国专利 :CN112802788A ,2021-05-14

[8]

一种高精度扭力测试机 [P].

沈军 .

中国专利 :CN215785028U ,2022-02-11

[9]

一种高精度气压测试机 [P].

黄利光 ;

黄何涛 ;

黄建光 ;

章其美 ;

何徐慧 ;

骆骑波 ;

华李东 .

中国专利 :CN214793581U ,2021-11-19

[10]

一种高精度振幅测试机旋转测试机构 [P].

徐建军 .

中国专利 :CN213516004U ,2021-06-22

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