一种低压测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421814722.6

申请日：

2024-07-30

公开(公告)号：

CN223005945U

公开(公告)日：

2025-06-20

发明(设计)人：

唐文颖李博

申请人：

四川拓景科技有限公司

申请人地址：

621000 四川省绵阳市科创区创新中心2号楼316室

IPC主分类号：

G01N7/00

IPC分类号：

代理机构：

安徽智联芯知识产权代理事务所(普通合伙) 34237

代理人：

顾颖杰

法律状态：

授权

国省代码：

四川省绵阳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种低压测试装置 [P].

唐宇 .

中国专利 :CN221507056U ,2024-08-09

[2]

一种电力电子设备低压测试装置 [P].

亓立锋 .

中国专利 :CN221572700U ,2024-08-20

[3]

一种ABS中低压测试装置 [P].

吴文浩 ;

梁江海 ;

刘伟 ;

张致兴 .

中国专利 :CN204269315U ,2015-04-15

[4]

一种测试装置 [P].

高崇 ;

陶培培 ;

史晓波 .

中国专利 :CN213239894U ,2021-05-18

[5]

一种测试装置 [P].

李浩 ;

刘跃 ;

江斌 .

中国专利 :CN213181828U ,2021-05-11

[6]

一种电容器低压测试装置 [P].

周南星 ;

陈伯兴 .

中国专利 :CN201796098U ,2011-04-13

[7]

一种充电机测试装置 [P].

王坤 ;

王屿嵩 .

中国专利 :CN223650650U ,2025-12-09

[8]

一种芯片测试装置 [P].

陈兵录 .

中国专利 :CN209486249U ,2019-10-11

[9]

一种疲劳测试装置 [P].

周成 ;

李虎 ;

陈炳其 .

中国专利 :CN204679356U ,2015-09-30

[10]

一种芯片测试装置 [P].

张静静 .

中国专利 :CN216485353U ,2022-05-10

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