多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211153646.4

申请日：

2022-09-21

公开(公告)号：

CN115585886B

公开(公告)日：

2025-06-24

发明(设计)人：

潘扬李丹

申请人：

上海炬豪半导体有限公司

申请人地址：

200000 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼

IPC主分类号：

G01J3/02

IPC分类号：

G01J3/28 G01J3/46

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

汤金燕

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-24	授权	授权

共 50 条

[1]

多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备 [P].

潘扬 ;

李丹 .

中国专利 :CN115585886A ,2023-01-10

[2]

多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备 [P].

潘扬 ;

李丹 .

中国专利 :CN115585885A ,2023-01-10

[3]

多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备 [P].

潘扬 ;

李丹 .

中国专利 :CN115389018A ,2022-11-25

[4]

多光谱检测装置及检测方法 [P].

彭彦昆 ;

郭辉 ;

江发潮 ;

欧阳文 ;

石力安 .

中国专利 :CN102590213A ,2012-07-18

[5]

光谱检测方法、存储介质、电子设备及装置 [P].

周勇 .

中国专利 :CN114414500B ,2022-04-29

[6]

多光谱检测装置 [P].

彭彦昆 ;

郭辉 ;

江发潮 ;

欧阳文 ;

石力安 .

中国专利 :CN202522520U ,2012-11-07

[7]

一种多光路检测装置及多光路光谱检测方法 [P].

薛永富 ;

刘玉宏 .

中国专利 :CN107727582A ,2018-02-23

[8]

提笔检测装置及其检测方法、电子设备 [P].

方志东 ;

邱涛 .

中国专利 :CN115480661B ,2025-11-04

[9]

提笔检测装置及其检测方法、电子设备 [P].

方志东 ;

邱涛 .

中国专利 :CN115480661A ,2022-12-16

[10]

多光谱遮挡目标的检测方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

张文宇 ;

李勇智 ;

黄通 .

中国专利 :CN119942095A ,2025-05-06

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