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測定装置及び測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240180319
申请日
:
2024-10-15
公开(公告)号
:
JP2025086327A
公开(公告)日
:
2025-06-06
发明(设计)人
:
YOSHIIKE TETSUYA
YAMANOUCHI MANABU
NAKAYAMA NAOTO
SHIOIRI AKIHIRO
HARAGUCHI RYUTARO
KAWAMURO YUKI
HANDA NOBUHISA
申请人
:
HIOKI ELECTRIC WORKS
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R27/02
IPC分类号
:
G01N27/02
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013084621A1
,2015-04-27
[2]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015198472A1
,2017-05-25
[3]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
TSUSHIMA TAKEO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
TOKYO SEIMITSU CO LTD
TSUSHIMA TAKEO
;
IWAKI SATOSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
TOKYO SEIMITSU CO LTD
IWAKI SATOSHI
.
日本专利
:JP2024101849A
,2024-07-30
[4]
測定装置、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7452227B2
,2024-03-19
[5]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6891074B2
,2021-06-18
[6]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5774150B2
,2015-09-02
[7]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7720510B2
,2025-08-08
[8]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7702986B2
,2025-07-04
[9]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022148173A
,2022-10-06
[10]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6335673B2
,2018-05-30
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