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包括损坏检测电路的存储器件以及包括该存储器件的测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411077847.X
申请日：
2024-08-07
公开(公告)号：
CN120183475A
公开(公告)日：
2025-06-20
发明(设计)人：
金恩智 金完东 文炳模 李光振
申请人：
三星电子株式会社
申请人地址：
韩国
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
孙尚白;范心田
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 公开 公开
共 50 条
[1]
存储器件、包括该存储器件的存储系统以及操作该存储器件的方法 [P]. 
金熙重 ;
赵诚珍 .
韩国专利 :CN117995236A ,2024-05-07
[2]
存储器件以及包括该存储器件的存储系统 [P]. 
李旻佑 ;
曹丙坤 ;
金德成 ;
全俊镐 ;
黄斗熙 .
韩国专利 :CN119811445A ,2025-04-11
[3]
存储器件以及操作包括该存储器件的存储器系统的方法 [P]. 
严泳度 ;
吴台荣 ;
金惠兰 .
韩国专利 :CN118571278A ,2024-08-30
[4]
存储器件和包括该存储器件的存储系统 [P]. 
劝兑晎 ;
边大锡 .
韩国专利 :CN118430602A ,2024-08-02
[5]
包括滤波电路的存储器件、包括存储器件的存储系统 [P]. 
元钟淳 ;
崔海郞 .
韩国专利 :CN118412017A ,2024-07-30
[6]
存储器件以及包括该存储器件的存储模块 [P]. 
金基兴 ;
俞昌植 ;
任政燉 ;
黄炯烈 .
韩国专利 :CN119541572A ,2025-02-28
[7]
存储器件以及包括存储器件的存储系统 [P]. 
李荣燮 .
中国专利 :CN103680599A ,2014-03-26
[8]
存储器件、存储器件的操作方法以及包括存储器件的存储器系统 [P]. 
姜晟默 ;
宋英杰 ;
李起准 ;
李明奎 ;
孙教民 .
韩国专利 :CN120340581A ,2025-07-18
[9]
存储器件和包括该存储器件的半导体器件 [P]. 
郑尚勋 ;
赵诚珍 .
中国专利 :CN115497534A ,2022-12-20
[10]
非易失性存储器件和包括该存储器件的存储系统 [P]. 
金度亨 ;
金志荣 ;
金智源 ;
成锡江 ;
梁宇成 .
韩国专利 :CN117672309A ,2024-03-08
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