一种基于多光谱成像的产品缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510609078.1

申请日：

2025-05-13

公开(公告)号：

CN120147310A

公开(公告)日：

2025-06-13

发明(设计)人：

柯跃前蒋威叶一青李昆塬

申请人：

泉州师范学院

申请人地址：

362200 福建省泉州市丰泽区东海大街398号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/774 G06V10/82 G06V20/10 G06N3/0464 G06N3/084 G06N3/096 G06N3/0985 G01N21/88

代理机构：

北京东方盛凡知识产权代理有限公司 11562

代理人：

唐福顺

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省连云港市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-15	授权	授权
2025-06-13	公开	公开
2025-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250513

共 50 条

[1]

一种基于多光谱成像的产品缺陷检测方法及系统 [P].

柯跃前 ;

蒋威 ;

叶一青 ;

李昆塬 .

中国专利 :CN120147310B ,2025-07-15

[2]

基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统 [P].

郑建国 ;

罗小平 ;

李蓉华 .

中国专利 :CN119246521B ,2025-11-28

[3]

基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统 [P].

郑建国 ;

罗小平 ;

李蓉华 .

中国专利 :CN119246521A ,2025-01-03

[4]

基于多光谱成像的液晶玻璃缺陷检测方法、系统及设备 [P].

郭丽 ;

古颖 .

中国专利 :CN121033007A ,2025-11-28

[5]

一种基于多光谱成像的产品表面缺陷检测系统 [P].

王洋 ;

陈果 ;

毛雪慧 ;

闫龑 .

中国专利 :CN110441312A ,2019-11-12

[6]

基于多光谱成像的工业零件缺陷检测方法及系统 [P].

刘佩直 ;

钱佳琛 .

中国专利 :CN120778743A ,2025-10-14

[7]

基于多光谱成像的电子元器件外观缺陷检测方法及系统 [P].

杜志强 ;

韩顺利 ;

朱军锋 ;

张桂鸣 ;

蒋金春 ;

李成瑞 ;

胡晓宁 .

中国专利 :CN119780119A ,2025-04-08

[8]

基于多光谱成像的产品缺陷智能检测系统及其方法 [P].

曾晓东 .

中国专利 :CN115508366A ,2022-12-23

[9]

基于多光谱成像的地面污渍检测方法、系统及存储介质 [P].

郑帆 ;

陈超 ;

沈昱 ;

张崇磊 ;

梁正平 ;

刘湘宇 ;

吕鹏 ;

梁洪易 .

中国专利 :CN120431475A ,2025-08-05

[10]

基于多光谱成像的地面污渍检测方法、系统及存储介质 [P].

郑帆 ;

陈超 ;

沈昱 ;

张崇磊 ;

梁正平 ;

刘湘宇 ;

吕鹏 ;

梁洪易 .

中国专利 :CN120431475B ,2025-09-09

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